Cтраница 1
Формы объектов в левой и правой частях оператора присваивания должны совпадать. [1]
В зависимости от формы объекта и его положения в пространстве применяются различные способы построения проекций теней: способ лучевых сечений, способ касательных поверхностей и способ обратных лучей. Кроме указанных основных способов построения теней применяются также способ вспомогательных плоскостей уровня, способ выноса и способ вспомогательного проецирования. [2]
Коэффициент Ск зависит от формы объекта и от характеристик потока. [3]
Профили участков зависят от формы захватываемого объекта. [4]
Схема испытаний зависит от размера и формы объекта и выбирается с учетом оптимальных условий выявляемое конкретного типа дефектов. [5]
Интенсивность дифрагированного луча зависит также от размеров и формы объекта, от совершенства кристалла ( в частности, от величины блоков), условий опыта ( расходимость луча, степень монохроматичности луча, перемещение объекта во время съемки и пр. К своеобразным эффектам приводят тепловые колебания атомов. Они не только влияют на интенсивность лучей, дифрагированных согласно закону Вульфа - Брэгга, но и создают собственную картину рассеяния ( правда, в 1000 - 10000 раз более слабую), накладывающуюся на дифракционную картину, к-рую создал бы кристалл с покоящимися атомами. [6]
Интенсивность дифрагированного луча зависит также от размеров и формы объекта, от совершенства кристалла ( в частности, от величины блоков), условий опыта ( расходимость луча, степень монохроматичности луча, перемещение объекта во время съемки и пр. К своеобразным эффектам приводят тепловые колебания атомов. Они не только влияют на интенсивность лучей, дифрагированных согласно закону Вульфа - Брэгга, но и создают собственную картину рассеянии ( правда, в 1000 - 10000 раз более слабую), накладывающуюся на дифракционную картину, к-рую создал бы кристалл с покоящимися атомами. [7]
Экранирующая поверхностная плотность наведенных зарядов зависит в основном от формы объекта, его расположения и ориентации относительно поверхности земли. Силовые линии внешнего поля перпендикулярны поверхности объекта, причем напряженность поля на поверхности объекта различна. [8]
Чувствительность фотодатчика также зависит от отражающей способности поверхности и формы объекта и определяется экспериментально. Фон, на котором распознается объект, должен иметь поглощающую поверхность. [9]
АНАМОРФИРОВАННАЯ КАРТА, преоб разованная непространственноподобная карта, изменяющая формы показанных объектов и направления, но точно отражающая их топологические отношения. В проекцию кроме географических координат вводят величину самого картографируемого явления ( так, площадь государства становится пропорциональной численности населения, а удаленность от к. [10]
Причинами случайных погрешностей могут быть как несо-вершенство метода, измерительного прибора и формы объекта, так и изменение внешних условий наблюдения и квалификации наблюдателя. [11]
Таким образом можно утверждать, что основным условием сохранения правильной передачи размеров и формы объектов в электронном микроскопе является недопустимость чрезмерного его нагревания. Поэтому нужно избегать повышения яркости изображения за счет излишнего увеличения тока электронного пучка. Просмотр объекта желательно проводить при пониженной яркости, увеличивая ее лишь на время фотографирования. По возможности следует сокращать также и время наблюдения. Фотографирование целесообразно производить при меньшем увеличении, но большем поле зрения, что дает возможность затем при оптическом увеличении полученных негативов детально рассмотреть отдельные участки объекта. Кроме того, с понижением увеличения в квадрате увеличивается яркость электронного изображения ( при постоянной мощности облучения объекта), что дает возможность, следовательно, работать при меньших плотностях тока. [12]
![]() |
Распределение плотности. [13] |
Глубина проникновения вихревых токов в объект контроля зависит от конструкции вихретокового преобразователя, формы объекта контроля и интенсивности затухания на глубине. [14]
Проекции равновеликие - проекции, которые не искажают площадей, но искажают углы и формы объектов. [15]