Cтраница 3
Выбор фокусного расстояния при визуальном методе упрощается по сравнению с фотометодом тем, что здесь его можно подобрать непосредственно по видимому изображению. [31]
Вводятся поправки на факторы Лорентца и поляризации для данных, полученных фотометодом. Может быть введена также поправка Филлипса на форму пятен. В тех случаях, когда кристалл можно описать сферой или цилиндром, обычно включают учет поглощения рентгеновских лучей в кристалле. [32]
![]() |
Ключ к номограммам для расчета углов скольжения. [33] |
Номограммы рис. 45 - 54 предназначены для расчета дебаеграмм, снятых фотометодом по Страуманису. [34]
Существенное преимущество фотометода перед дифрактометрическим заключается в возможности выявления очень слабых рефлексов; фотометод имеет также некоторое преимущество в тех случаях когда анализируются сложные по геометрии картины диффузного рассеяния. [35]
Кристалл, ось вращения которого установлена ранее по оси гониометрической головки с помощью фотометода, переносят из камеры Вайсенберга на дифрактометр. Оптическое приспособление, смонтированное на коллиматоре рентгеновского пучка, позволит визуально отцентрировать кристалл на оси вращения прибора с помощью салазок гониометрической головки. [36]
Эта программа используется также для первичной обработки данных, полученных с помощью дифрактометра или фотометодом. [37]
В институте физики металлов УФАН, а также в некоторых зарубежных лабораториях [6,7] детально разработан фотометод бетатроннойдефектоскопии, который наряду с простотой и высокой чувствительностью обладает малой производительностью при просвечивании изделий толщиной больше 300 мм. Это вызвано сравнительно большими экспозициями и ограниченностью облучаемой площади. [38]
![]() |
Зависимости С ( Т и b ( f ( T образцов системы КМЬОд. [39] |
По аналогии с работой LU при х0 10 можно ожидать упорядоченного расположения вакансии, однако использованный рентгеновский фотометод не позволил показать это однозначно. Таком образом добавки BalMb 80 nSrNb Q gOo по-разному влияют на объем подьячейки, что должно привести к неодинаковым концентрационным зависимостям величин, характеризующих сегнето - и пьезоэлектрические свойства и что при х 0 08 следует ожидать аномального хода этих параметров. [40]
Для изучения формы потока стружки и его направления при различных условиях точения хрупких материалов был применен фотометод. [41]
![]() |
Лабораторная установка для изу чения формы ц направления потока стружек. [42] |
Для изучения формы потока стружек и его направления при различных условиях точения хрупких материалов был применен фотометод. [43]
Так как надежность идентификации повышается, если число отражений фазы растет, то съемку при работе фотометодом следует проводить от столбика в камере Дебая с вращением препарата. Диаметр камеры должен быть большим ( рекомендуются камеры РКУН4 и РКУ86), если дифрагированное излучение не поглощается заметно воздухом. Расположение пленки может быть прямым или, что лучше, асимметричным, особенно если фазовый анализ должен завершиться определением значений периодов решеток присутствующих фаз. [44]
![]() |
График чувствительности метода дефектоскопии со сцинтилляционным счетчиком.| Схема коллимационного устройства со сцин-тилляциопным счетчиком для гамма-дефектоскопа. [45] |