Фотометода

Cтраница 1

Фотометоды весьма разнообразны, но можно указать четыре основных принципа. [1]

Фотометодами определяют пространственную группу и параметры элементарной ячейки. [2]

На основании размеров ячейки, полученных фотометодами, определяют углы у, j и ц ( М - - v) для каждого из отражений. [3]

Если интенсивности можно измерять с помощью как дифрактометра, так и фотометода, то размеры элементарной ячейки и пространственную группу обычно определяют только по рентгенограммам. Необходимые рентгенограммы можно получить на камере Вайсенберга; полученные данные могут быть подтверждены и дополнены с помощью прецессионной камеры. Хотя камера вращения полезна, она не является необходимой, так как камеру Вайсенберга можно использовать в качестве камеры вращения с тем преимуществом, что кристалл уже ориентирован и для съемки рентгенограмм по Вайсенбергу. [4]

Рентгеновский дифрактометр общего назначения ДРОН-20. [5]

В комплекте с дифрактометром ДРОН-20 может быть приобретена рентгеновская приставка для фотометода ПРФ-1, предназначенная для рентгеноструктурных исследований с помощью рентгеновских камер различного типа. [6]

Однако обычные установки для визуального контроля обладают пониженной по сравнению с установками для фотометода чувствительностью, требуют значительного времени для аккомодации глаза оператора, несовершенны в смысле защиты оператора от воздействия рентегневского излучения. [7]

Ионизационный или сцинтилляционный метод предусматривает использование специальных устройств-гониометров. Если при фотометоде все отраженные от образца лучи одновременно фиксируются фотопленкой, то при ионизационном методе установленный на гониометре счетчик излучения непрерывно двигаясь по окружности, в центре которой установлен исследуемый образец последовательно фиксирует дифракционные максимумы, встречающиеся на пути его движения. Электрический сигнал от счетчика через специальные устройства подается на электронный самопишущий потенциометр. Отклонение пера потенциометра прямо пропорционально мощности рентгеновского излучения, отраженного от образца. [8]

Ионизационный или с ц и н т и л л я ц и о н н ы и метод предусматривает использование специальных устройств-гониометров. Если при фотометоде все отраженные от образца лучи одновременно фиксируются фотопленкой, то при ионизационном методе установленный на гониометре счетчик излучения непрерывно двигаясь по окружности, в центре которой установлен исследуемый образец последовательно фиксирует дифракционные максимумы, встречающиеся на пути его движения. Электрический сигнал от счетчика через специальные устройства подается на электронный самопишущий потенциометр. Отклонение пера потенциометра прямо пропорционально мощности рентгеновского излучения, отраженного от образца. [9]

Метод фотосетки лишен указанных недостатков и дает возможность применения стандартных сеток, которые в точности повторяются на каждом образце. Однако при этих очевидных преимуществах фотометод довольно сложен, особенно если образцы имеют криволинейную форму. [10]

Ряд фирм выпускает к стандартным электронным микроскопам приставки для рентгеномикроанализа. В системах регистрации данных эксперимента находят применение как общепринятые фотометоды ( на пленках и пластинках), так и современные методы с использованием электроннолучевых трубок. В последнем случае открываются возможности использования автоматических методов анализа и измерения характеристик изображений исследуемых образцов. [11]

Счетчик регистрирует в каждый момент времени интенсивность дифракции в узком угловом интервале. Таким образом, вся дифракционная картина регистрируется последовательно, а не одновременно, как в фотометоде. [12]

Дифрактограмма кварца. [13]

Счетчик регистрирует в каждый момент времени интенсивность дифракции в узком угловом интервале. Таким образом, вся дифракционная картина ( дифрактограмма) регистрируется последовательно, а не одновременно, как в фотометоде. Типичный вид дифракто-граммы ( полученной по методу Дебая-Шерера) приведен на рис. 6.5. Каждому дифракционному пику определенной интенсивности с максимумом, соответствующим углу 9, соответствует расстояние d между определенными кристаллографическими плоскостями. [14]

Дифрактограмма кварца. [15]

Страницы: 1 2