Фотометрирование - спектр
Cтраница 2
Ширина измерительной щели должна быть не больше / з ширины изображения спектральной линии, а высота щели несколько меньше высоты спектральных линий на экране прибора. Например, при фотометрировании спектра, сфотографированного на спектрографе ИСП-28 при ширине щели 0 018 мм, ширина изображения спектральных линий на экране микрофотометра 0 018 мм 1 2 21 - 0 45 мм ( 1 2х увеличение спектрографа; 21; - увеличение микрофотометра) и следует брать измерительную щель шириной не больше 0 15 мм. [16]
Далее следуют работы по освоению приемов полуколичественного спектрального анализа, основанных на применении гомологичных пар линий и метода фотометрического интерполирования. Ценность этих способов заключается в том, что первый позволяет при выполнении анализа обойтись без образцов сравнения, а второй дает возможность приобрести навыки визуального фотометрирования спектров на фотографических снимках. [17]
 |
Данные по анализу растворов стилометром. [18] |
Перед анализом сухие угли обыскриваются 1 - 2 мин. Фотометрирование спектра следует начинать через 1 - 1 5 мин. [19]
Оптимальное время предварительного обыскривания устанавливают экспериментально следующим образом. Каждую серию спектров получают на свежеприготовленной поверхности образца. Время экспозиции по возможности должно изменяться в пределах 10 - 60 с. После обработки и фотометрирования спектров далее применяют один из двух возможных способов дальнейшей обработки результатов измерений. [20]
 |
Кварцевая камера для сжигания проб в токе инертного газа. [21] |
Фотопластинку проявляют, фиксируют, промывают в проточной воде в течение 15 мин. Ыа основании результатов фотометрирования спектров эталонов строят градуировочный график для каждого определяемого элемента в координатах S - Igc. Зная почернение линии определяемого элемента в спектрах анализируемых проб, находят концентрацию его в процентах по градуировочному графику. [22]
 |
Кварцевая камера для сжигания проб в токе инертного газа. [23] |
Фотопластинку проявляют, фиксируют, промывают в проточной воде в течение 15 мин. На основании результатов фотометрирования спектров эталонов строят градуировочный график для каждого определяемого элемента в координатах S - Igc. Зная почернение линии определяемого элемента в спект pax анализируемых проб, находят концентрацию его в процентах по градуировочному графику. [24]
Были найдены приемы стабилизации условий возбуждения спектра, разработана аппаратура и методы для наблюдения и фотометрирования спектра, доведшие технику практического спектрального анализа до высокой степени совершенства. [25]
 |
Записи участка спектра железа. [26] |
Способ оценки спектров под спектро-проектором часто удовлетворяет требованиям точности определения следов элементов. Вместе с точностью можно также увеличить чувствительность, если воспользоваться методами полуколичественного анализа ( разд. По сравнению с визуальным способом оценки спектров предел обнаружения можно снизить примерно в два раза путем фотометрирования спектров или измерения высоты пиков на зарегистрированных спектрах. Величина предела обнаружения ( б) данного метода, визуально едва различимая, легко идентифицируется при фотометрическом измерении записи. [27]
 |
Трехлинзовая конденсорная система. [28] |
Линии будут неоднородно интенсивными по длине. Это очень удобно при изучении состава паров и характера возбуждения спектра различными участками объема излучателя. Но при целом ряде обычных способов фотометрирования спектра оно совершенно неприемлемо для аналитической работы. [29]
Следует получить спектрограммы железа и стали рядом с металлами: алюминием, вольфрамом, кремнием, марганцем, молибденом, никелем, титаном, хромом. Полученную спектрограмму помещают на спектропроектор. По табл. 5 и 6 находят длины волн аналитической пары линий. По дисперсионной кривой определяют их место на пластинке, а при помощи атласа спектральных линий по спектру соли - линию определяемого металла. По атласу спектра железа отыскивают линию сравнения. Аналитическую пару линий зарисовывают, однако лучше, если она будет сфотографирована. Стрелками отмечают положение линии определяемого элемента, линии сравнения и их длины волн. Такие схемы облегчают нахождение аналитических пар линий при фотометрировании спектров эталонов и образцов стали. [30]
Страницы: 1 2