Фотонасадка

Cтраница 4

Прибор сделан по оптической схеме с компенсатором, стоящим перед образцом. Имеется микрообъектив, позволяющий наблюдать рельеф исследуемой поверхности на экране электроннолучевой трубки. Источник света гелий-неоновый лазер, регистрация визуальная, либо ( с помощью фотонасадки) на фотопленке, а также фотоэлектрическая. Удобен для технологического контроля показателей преломления и толщины окисных пленок. [46]

Модель имеет магнитопровод с разрезом, имитирующим собой рабочий зазор муфты. Величина зазора магнитопро-вода может быть установлена в диапазоне 0 - 2 5 мм, торцовые поверхности зазора ( 22X0 1 мм2) могут сдвигаться одна относительно другой в направлении, перпендикулярном направлению магнитного поля, на величину 0 - 10 мм. Разрез магнитопровода - позволяет просматривать наполнитель в магнитном поле при помощи микроскопа МБ4 - 1 и фотографировать его состояние посредством фотонасадки к микроскопу. [47]

Схема установки для исследования скорости распространения усталостной трещины. [48]

Поверхность образца можно наблюдать с помощью оптической системы ( фото 2), которая при применении иммерсионной оптики обеспечивает 1400-кратное увеличение. Микроскоп закрепляется на координатном столике. Это позволяет проводить наблюдение и необходимые замеры без снятия образца с установки. Для фотографирования используется фотонасадка. Для испытаний применяются плоские образцы 70x10x3 мм. [49]

Конструкция фотонасадки показана на фиг. На корпусе 2 насадки укреплен визуальный тубус 3 с расположенными в нем вспомогательным объективом, сеткой и окуляром. Внутри корпуса помещена откидная призма. Фотокамера 5 с кассетой устанавливается сверху на корпус фотонасадки и закрепляется кольцом. При нажатии на тросик 4 перед открытием затвора откидная призма автоматически выводится из хода лучей. [50]

Двойной мик р о скоп МИС-11 конструкции акад. В этом приборе микронеровности освещаются световой полосой, направляемой из осветительного тубуса под некоторым углом к контролируемой поверхности. Линия пересечения световой полосы и микронеровностей наблюдается в увеличенном виде в визуальном тубусе. Микронеровности измеряются с помощью окулярного микрометра или фотографируются с помощью фотонасадки МФН-1. Сменными объективами достигается увеличение в 87, 157, 270 и 517 раз. На приборе определяется шероховатость поверхности по показателю Re. [51]

Универсальный исследовательский микроскоп Ну ( К. Цейсе, г. Иена. [52]

Большой универсальный исследовательский микроскоп Ну ( рис. 41) позволяет изучать объекты в проходящем и отраженном свете, в светлом и темном поле, методом фазового контраста, а также в свете люминесценции. Универсальность конструкции и сменные узлы позволяют применить микроскоп для поляризационных и металлографических работ. Наличие трех источников света ( лампа накаливания, ксеноновая и ртутная лампы) дает возможность в больших пределах изменять освещенность объекта. Большое удобство представляет панкратическая система для плавного изменения окулярного увеличения. Микроскоп имеет встроенный экспонометр и установленную сверху фотонасадку. В отличие от широко распространенных фазово-контрастных устройств здесь в конденсоре для фазового контраста применены не одна, а две кольцевые концентричные диафрагмы, а в объективах - по два концентричных фазовых кольца. Кольцевые диафрагмы конденсора открываются либо обе сразу, либо только внутренняя. [53]

Страницы: 1 2 3 4