Импульс - дефект
Cтраница 1
Импульс дефекта подается с магнитной головки МГ1 через усилитель-ограничитель УОХ на ключ / С. Ключ открывается на интервалы времени At, задаваемые датчиком времени ДВ. [1]
Если импульс дефекта не умещается на экране, следует поставить ручку Вид измерений в положение Нтп, а затем ручку Расстояние - в крайнее левое положение. Поворачивая ручку Расстояние вправо, можно видеть, как амплитуда импульса уменьшается. [2]
Когда импульс дефекта совпадает во времени со строб-импульсом ( попадает в временные ворота), на сопротивлении R34 выделяется кратковременный отрицательный импульс, запускающий мультивибратор схемы АСД. Мультивибратор вырабатывает прямоугольные импульсы с частотой следования импульсов синхронизатора. [3]
 |
Схема ультразвукового импульсного эхо-дефектоскопа. [4] |
Расстояния Zx и Z2, на которых расположены импульс дефекта и донный импульс, по отношению к начальному соответствуют глубине залегания дефекта и толщине детали. По амплитуде эхо-сигнала, отраженного от дефекта, судят о его размере. Современные ультразвуковые дефектоскопы обладают чувствительностью и точностью до 2 %, поэтому они находят все более широкое применение для дефектоскопии деталей ГПА. [5]
 |
Схема ультразвукового эхо-дефектоскопа. [6] |
Расстояния 1г и / 2, на которых расположены импульс дефекта и донный импульс по отношению к начальному импульсу соответствуют глубине залегания дефекта и толщине изделия. По амплитуде эхо-сигнала, отраженного от дефекта, судят о размере дефекта. [7]
Сигнал от поля дефекта, считываемого неподвижным преобразователем, усиливается и через согласующий каскад поступает на схему разделения импульса дефекта по полярностям, которая одновременно служит для автоматического ограничения снизу уровня сигнала дефекта по изменению уровня шума. [8]
 |
Схема ультразвуковою контроля металла. [9] |
При прозвучивании неоднородного металла, каким является металл почти каждого сварного соединения, происходит большое рассеивание энергии ультразвуковых волн, которое приводит к сложному и нечеткому изображению импульса дефекта на экране электроннолучевой трубки. Чрезмерное рассеивание энергии колебаний может привести к нехватке ее для обнаружения дефекта. [10]
Перемещая головку по поверхности образца, добиваются максимальной амплитуды импульса дефекта, расположенного на максимальной глубине. [11]
На горизонтальной линии развертки на осциллограмме рис. 3 - 47 ( слева) видны отметки времени, получаемые от специального приспособления в дефектоскопе и служащие для определения глубины залегания1 дефектов. На этой осциллограмме каждая отметка соответствует 1 мксек, ли 5 7 мм глубины; изображенный на рисунке импульс дефекта, таким образом, находится на расстоянии 7 5 мксек, что равно расстоянию от дефекта до поверхности 43 мм. Вся толщина контролируемого металла составляет 114 мм. [12]
Пользование электронной лупой дает возможность просмотреть любой слой изделия в увеличенном масштабе. Вначале контроль ведут с помощью развертки грубо. Затем при необходимости метку глубиномера подводят к импульсу дефекта. Ручку Лупа ставят в положение Включено, и ручкой Расстояние изменяют время задержки развертки точно, в результате чего на экране просматриваются слои изделия, прилегающие к дефекту. [13]
Перемещая головку по поверхности образца, добиваются максимальной амплитуды импульса дефекта, расположенного на максимальной глубине. Ручкой Конец Ду совмещают фронт импульса дефекта с меткой глубиномера. Затем обнаруживают дефект на минимальной глубине. Указатель Расстояние устанавливают против деления, равного этой глубине. Ручкой Начало Ду метку глубиномера совмещают с фронтом импульса дефекта. Для получения высокой точности настройку в данной последовательности следует производить не менее 3 - 4 раз. [14]
 |
Функциональная схема вихретокового дефектоскопа. [15] |
Страницы: 1 2