Прошедший импульс

Cтраница 3

Для увеличения помехоустойчивости импульсы частоты fx пропускаются через электронный ключ ЭК, в течение известного интервала времени АГобр, задаваемого генератором образцового интервала времени ГОИВ. С помощью второго электронного счетчика ЭСч2 число прошедших импульсов / V / дЛТобр фиксируется и отображается на цифровом индикаторе в единицах напряжения Ux. Интервал АГобр выбирается равным периоду помехи Тп, которая, усредняясь, ослабляется. Главным источником помехи является питающая сеть, поэтому & Т0 р 20 мс. [31]

Экспериментальные данные, получаемые во время каждого динамического испытания, представляют собой фотографии осциллограмм. Действующая нагрузка как функция времени вычисляется непосредственно по фотографии прошедшего импульса. [32]

Цифры, стоящие около светящихся электродов, отсчитываются слева направо и определяют количество прошедших импульсов. [33]

За переменным двойным преломлением, например, на образце под переменной нагрузкой, проще проследить по амплитуде одного определенного эхо-импульса, чем по минимуму серии эхо-импульсов, поскольку амплитуда определенного импульса изменяется по закону косинуса фазового угла. Если двойное преломление будет достаточно высоким, для этого также используют первый эхо-импульс или однократно прошедший импульс при импульсном н роз в учив ап ии. [34]

К формированию структурных помех. [35]

Для структурных помех коэффициент прозрачности слабее зависит от толщины слоя. Это связано с тем, что уровень структурных помех определяет не амплитуда, а интенсивность, пропорциональная энергии прошедшего импульса, которая равна произведению квадрата амплитуды на длительность импульса. Энергия меньше изменяется при изменении условий интерференции в тонком слое. [36]

Прошедший импульс, в отличие от известных решений, описывается конечной суммой многократно отраженных импульсов, амплитуда которых убывает с ростом числа отражений не только благодаря коэффициентам отражения от границ слоя, но и в связи с уменьшением энергетических коэффициентов. Так как максимум амплитуды прошедшего импульса формируется в области максимума амплитуды исходного импульса, то число импульсов, дающих вклад в амплитуду прошедшего импульса, определяется соотношением длительности переднего фронта из вершины импульса и набегом фазы между многократно отраженными импульсами. [37]

Для структурных помех коэффициент прозрачности не зависит от толщины слоя. Это явление связано с тем, что в этом случае уровень структурных помех определяет не амплитуда, а интенсивность, пропорциональная энергии прошедшего импульса, которая равна произведению квадрата амплитуды на длительность импульса, а она остается практически постоянной при изменении условий интерференции в тонком слое. Если, например, коэффициент прозрачности уменьшается, то соответственно упадет амплитуда, но возрастет длительность импульса, таким образом, что энергия прошедшего через слой импульса остается постоянной. В результате электрический уровень структурных помех на экране ЭЛТ не зависит от толщины слоя контактной жидкости при контроле контактным методом. [38]

Измерение временных интервалов методом дискретного счета принципиально не отличается от измерения длительности периода. В течение измеряемого интервала селектор пропускает на электронно-счетное устройство импульсы от стабилизированного кварцем генератора. По числу прошедших импульсов и их длительности определяется временной интервал. Точно так же измеряется и длительность импульсов. [39]

Общее число импульсов за некоторый интервал времени подсчитывается при открытом временном селекторе. На цифровом табло появляется текущее значение числа прошедших импульсов, а по окончании счета - их сумма N. Абсолютная погрешность не превышает одного импульса, а относительная б 1 / N. Считать импульсы можно только тогда, когда минимальное расстояние между ними превышает разрешающую способность частотомера. [40]

При контроле этим методом применяют прямые узкополосные и широкополосные преобразователи продольных волн. Узкополосные преобразователи более чувствительны, но присущая им значительная длительность УЗ-импульсов затрудняет выделение прошедших через ОК сигналов. Поэтому для контроля ОК с небольшим затуханием УЗК ( амплитуда прошедших импульсов достаточно велика) целесообразнее использовать широкополосные преобразователи. Иногда широкополосные излучающие преобразователи УЗ-дефек-тоскопов применяют в паре с резонансными приемными преобразователями аку-стико-эмиссионной аппаратуры. [41]

Эти датчики измеряли ту долю импульса, которая прошла через надрезанное сечение. Кольский [10] показал, что прошедший импульс в его экспериментах дает непосредственную меру средних напряжений, действующих в образце. Приняв за образец область, содержащую надрез, с очевидностью получаем, что амплитуда прошедшего импульса прямо пропорциональна среднему нетто-напряже-нию в сечении разрушения. [42]

Проникающие внутрь трубки быстрые 0-частицы ионизуют атомы газа на своем пути. Возникающие свободные электроны ускоряясь электрическим полем между нитью и стенками производят дальнейшую ионизацию, приводящую к пробою газа - происходит электрический разряд. Счетчик включается в специальную схему так, чтобы возникший в нем ток быстро обрывался Посче гашения разряда происходит рекомбинация ионов и счетчик вновь готов к действию. Прошедший импульс тока после соответствующего усиления регистрируется специальной пересчетной схемой или электромеханическим счетчиком. Этот прибор позволяет отсчитывать до нескольких тысяч проходящих через него частиц в секунду. [43]

Проникающие внутрь трубки быстрые 5-частицы ионизуют атомы газа на своем пути. Возникающие свободные электроны, ускоряясь электрическим полем между нитью и стенками, производят дальнейшую ионизацию, приводящую к пробою газа - происходит электрический разряд. Счетчик включается в специальную схему так, чтобы возникший в нем ток быстро обрывался. После гашения разряда происходит рекомбинация ионов и счетчик вновь готов к действию. Прошедший импульс тока после соответствующего усиления регистрируется специальной пересчетной схемой или электромеханическим счетчиком. Этот прибор позволяет отсчитывать до нескольких тысяч проходящих через него частиц в секунду. [44]

Страницы: 1 2 3