Аппаратная функция

Cтраница 3

А - аппаратная функция прибора; Е - постоянная элемента; / - толщина пробы; XK - длина волны линии края поглощения; Х0 - граница непрерывного спектра; [ хе ( Я) - коэффициент поглощения - линейная функция длины волны; N0 ( К) - число фотонов первичного излучения. [31]

TI. 55. Аппаратная функция растрового спектрометра. [32]

То что аппаратная функция растрового спектрометра является суммой двух функций, можно объяснить следующим образом. Функция Р ( у) определяется только внешним контуром растра и представляет собой форму сигнала, который регистрировал бы приемник при замене растров простыми диафрагмами с тем же контуром. [33]

Ширина этой аппаратной функции является, очевидно, минимальной для данного спектрального прибора. [34]

Поскольку действие аппаратной функции сводится лишь к пространственному перераспределению энергии в направлении линии дисперсии, то. [35]

Важной характеристикой аппаратной функции, как мы знаем, является ее ширина, определяющая разрешающую способность прибора. [36]

Под шириной аппаратной функции обычно понимается разность абсцисс, при которых аппаратная функция уменьшается в 2 раза по сравнению со своим максимальным значением. [37]

Характеристика эталонов. [38]

Значение полуширины аппаратной функции для аналитической полосы необходимо для воспроизведения условий анализа на других приборах. [39]

Наличие у аппаратной функции побочных медленно убывающих максимумов ( первый отрицательный максимум равен 0 22) существенно ухудшает обнаружение слабых спектральных линий вблизи сильных, затрудняя тем самым исследование сложных спектров. [40]

Для получения аппаратной функции СИСАМа рассмотрим распределение интенсивности на выходной диафрагме для длины волны К Ка АХ. [41]

При симметрии аппаратной функции А ( х) фазовый угол становится исчезающе малым и его можно не учитывать. [42]

Наложение аппаратных функций для двух линий с длинами волн Я н К б /, при dl я ( а и dl а ( б. [43]

Конечная ширина аппаратной функции реальных спектральных приборов также ограничивает возможность различения в спектре двух близких спектральных линий. Если же 6Х мало, так что dl а, то аппаратные функции для обеих линий в значительной своей части перекрываются ( рис. 1.21, б) и в результирующем распределении мы не всегда сможем установить наличие двух линий - линии не будут разрешены. [44]

Прп наличии аберраций аппаратная функция отличается от дифракционной п имеет более сложный вид. [45]

Страницы: 1 2 3 4