Cтраница 2
Их классифицируют по виду диэлектрика, по конструктивным особенностям, по характеру изменения емкости при изменении угла поворота ротора и по применению в радиоустройствах. [16]
![]() |
Форма пластин роторов переменных конденсаторов.| Конденсаторный блок радиовещательного приемника. [17] |
Конденсаторы переменной емкости отличаются друг от друга назначением, видом изоляции между пластинами, характером изменения емкости от угла поворота ротора и, наконец, конструкцией и способами изготовления. [18]
![]() |
Изменение емкости стеклокерамических конденсаторов. [19] |
Ниже рассмотрены температурные зависимости основных электрических параметров конденсаторов - емкости, tg б и сопротивления изоляции. Характер изменения емкости конденсаторов групп МПО, М47, МЗЗО соответствует знаку их температурного коэффициента емкости и подчиняется линейному закону. Лишь при снижении температуры от - 40 до - 60 С изменение емкости несколько увеличивается. Температурная зависимость емкости низкочастотных конденсаторов группы НЗО носит нелинейный характер и в интервале рабочих температур от - 60 до 155 С проходит через максимум при температуре 40 - 50 С. [20]
Об изменении характера анодного процесса свидетельствует также существенное уменьшение емкости до 0 1 мкф / см и увеличение сопротивления электрода в области пассивации. Такой характер изменения емкости и сопротивления с ростом потенциала можно объяснить возникновением на электроде новых поверхностных соединений, которые приводят к дальнейшему изменению характера процесса. [21]
Статья посвящена анализу работы цеолитов различной формы в пилотных и промышленных условиях. Показан характер изменения емкости цеолитов до проскока по н-парафинам в процессе их эксплуатация. Найдено, что цеолит кальциевой формы, используемый в настоящее время на промышленных установках, по своим адсорбционным свойствам значительно превосходят проектный цеолит магниевой формы. [22]
Наряду с измерением тангенса угла диэлектрических потерь изоляции трансформаторов тока при профилактике определяется емкость обмоток. Оценка характера изменения емкости обмоток, особенно для трансформаторов то ка с конденсаторной изоляцией, позволяет в ряде случаев своевременно определить - начало развития дефекта в слоях диэлектрика. [23]
Необходимо также обращать внимание на значения измеренной емкости отдельных зон изоляции обмоток. Известны случаи, когда по характеру изменения емкости удавалось своевременно обнаруживать отсутствие заземления экрана в автотрансформаторе. [24]
![]() |
Разрядная емкоеть серебряно - цинкового Аккумулятора ( я от номинальной зависимости от температуры. [25] |
Понижение температуры оказывает отрицательное влияние на среднее разрядное напряжение и емкость СЦ-аккумулятора. Так, при разряде током 10-часового режима на при жени е аккумулятора снижается от 1 55 В при 20 С до 1 35 В при - 20 С. Характер изменения емкости в диапазоне температуры от 20 до - 40 СС на примере аккумулятора СЦД-12 показан на рис. 37.2. Из рисунка видно, что при - 20 С емкость снижается до 50 % от номинальной, а при - 30 С падает до 20 %, Основная причина этого заключается в ухудшении работоспособности цинко-ного электрода, который подвергается пассивации. Повышение температуры выше комнатной несколько улучшает электрические характеристики, но сокращает срок службы аккумулятора. Таким образом, рабочий температурный интервал СЦ-аккумулятора лежит в области примерно от 60 до - 20 С. [26]
Многие примеси в полупроводниковых материа; ах создают многозарядные глубокие ловушки. Они могут находиться в различных состояниях в кристаллической решетке и образовывать комплексы и ассоциации атомов. Спектр фотоемкости представляет собой сумму спектров фотоемкости каждого глубокого уровкя. По характеру изменения емкости определяют, измеряется ли энергия уровня относительно дна зоны проводимости или потолка валентной зоны. В первом случае емкость структуры возрастает ( изменение емкости положительно) за счет увеличения плотности объемного заряда при опустошении глубоких центров, во втором - уменьшается ( изменение емкости отрицательно) за счет испускания дырок в валентную зону. Расчет параметров ловушек для неосновных носителей заряда является достоинством метода фотоемкости. [27]