Диссоциация - экситон - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Еще один девиз Джонса: друзья приходят и уходят, а враги накапливаются. Законы Мерфи (еще...)

Диссоциация - экситон

Cтраница 1


1 Сравнение спектральных зависимостей коэффициента поглощения k кристалла антрацена ( пунктирная линия, данные работы и вероятности фотоинжекции носителей Ф из 1 М водного раствора NH4OH в кристалл антрацена, содержащий 10 моль / моль тетрацена ( сплошная линия. В обоих случаях свет поляризован вдоль кристаллической оси /. Ордината спектра возбуждения фотопроводимости дает число носителей чаря-да во внешней цепи на каждый квант, поглощенный а кристалле. [1]

Диссоциация экситонов на границе с электродом или на поверхностной примеси может приводить к инжекции положительных или отрицательных носителей заряда в органический кристалл ( см. разд. Измеряя спектральные зависимости квантового выхода фотоионизации, можно определять длины диффузии экситонов ( см. разд. Из выражения (1.7.8.08) следует, что вероятность инжекции носителя в кристалл Ф изменяется пропорционально коэффициенту поглощения света k, если диффузионная длина меньше глубины поглощения света. В экспериментах, представленных на рис. 3.1.6 и 3.1.7, в кристалл преимущественно инжектируются носители какого-либо одного знака.  [2]

При диссоциации экситона образуются парамагнитные центры - дырки или захваченные электроны.  [3]

4 Переходы в хлориде калия. экситонный в центре зоны, междузонный и экситонный у края зоны, наблюдаемые в спектрах поглощения при 80 К ( сплошная линия и комнатной температуре ( пунктирная линия. [4]

Ец Eg диссоциация экситона вполне возможна. Отсюда следует, что Ец Eg и что Е - Ец слишком велика, чтобы могла произойти термическая диссоциация первого экси-тонного состояния, которое должно поэтому быть исключено из числа возможных промежуточных состояний в процессах переноса экситонов. Для наших целей необходимо лишь знать, что экситоны существуют и что они обладают подвижностью.  [5]

Для того чтобы диссоциация экситона привела к фотопроводимости, необходимо, чтобы ширина поперечной ветви валентной полосы равнялась по крайней мере 2 эв. Согласно данным Хауленда, это представляется совершенно невероятным.  [6]

7 Подробная диаграмма энергетических зон для контакта металл - полупроводник л-типа с прослойкой толщиной порядка межатомного расстояния. Показаны поверхностные состояния в полупроводнике. Обозначения. Фм - работа выхода металла, РВП - высота барьера между металлом и полупроводником, Рво - асимптотическое значение. вп ПРИ нулевом электрическом поле, РО - энергетический уровень на поверхности, Д - понижение барьера силы изображения, Д - потенциал поперек слоя раздела, х - сродство полупроводника к электрону, Vbi - внутренний потенциал, es - диэлектрическая проницаемость полупроводника, EJ - диэлектрическая проницаемость слоя раздела, 5 - толщина слоя раздела, Gsc - плотность пространственного заряда полупроводника, Qss - плотность поверхностного заряда полупроводника, QM - плотность поверхностного заряда на металле. [7]

Присутствие подходящей примеси на поверхности кристалла может обусловить высокую степень вероятности диссоциации экситона.  [8]

9 Спектральные зависимости объемной фотопроводимости кристаллов ЦТПТ. Показаны расположение электродов и ориентация кристаллов по отношению к возбуждающему свету. [9]

Генерация носителей, пропорциональная интенсивности света, может быть обусловлена автоионизацией экситонных состояний, прямыми межзонными переходами или диссоциацией экситонов на примесных состояниях. Последний процесс в кристаллах ЦТПТ, вероятно, не существен, поскольку создание большого числа дефектов или примесей при помощи бомбардировки тяжелыми ионами или пластической деформации кристаллов не меняло спектральных зависимостей и абсолютных значений фототока. Исключение из рассмотрения взаимодействия экситонов с дефектами указывает на собственный характер генерации носителей.  [10]

11 Импульсы электронного тока, измеренные при температурах 258 и 193 К и напряженности электрического поля, приложенного в направлении кристаллографической оси с, 6750 В / см. При 258 К, как видно из рисунка, захват носителей в ловушки мал, и импульс тока имеет прямоугольную форму, сглаженную постоянной времени цепи RC. При 193 К захват носителей проявляется гораздо сильнее и время пролета электронов возрастает ( подвижность уменьшается. При этой температуре при временах, больших времени пролета, наблюдается некоторое освобождение носителей из мелких ловушек. Захват носителей мелкими ловушками позволяет проводить количественные измерения квантовых выходов только при температурах, превышающих 200 К. [11]

Кристаллы, использовавшиеся в эксперименте, были тшательно очищены и помещались в установку в отсутствие кислорода - в этих условиях можно было пренебречь генерацией носителей из-за диссоциации экситонов на поверхности. Результаты, представленные на рис. 3.2.3 и 3.2.4, были получены Чансом и Брауном [23] именно с такими предосторожностями. Кроме того, было обнаружено, что после генерации в приповерхностной области происходит интенсивный захват носителей, знак которых предписывает им движение к освещенной поверхности под действием внешнего электрического поля. Так, при освещении положительного электрода дырки двигались через кристалл, а электроны преимущественно захватывались ловушками вблизи освещенной поверхности.  [12]

13 Спектры возбуждения дырочных ( а и электронных ( б фототоков в кристаллах антрацена. Оба электрода - щелочной раствор K2SnO2. [13]

Инжекция электронов обычно затруднена и требует использования сильных окислителей, имеющих большое сродство к электрону. Иначе говоря, диссоциация экситонов обычно приводит к инжекции дырок. В основном это обусловлено захватом электронов в ловушки на поверхности кристалла, а также высокой скоростью рекомбинации электронов на электроде, что может быть доказано с помощью изучения температурных зависимостей электронных и дырочных токов. Меньшие по сравнению с дырочными значения электронных токов насыщения должны быть вызваны большей, чем у дырок, скоростью рекомбинации электронов с поверхностью. Как видно из рис. 3.1.9, при возбуждении кристаллов антрацена светом с длиной волны 3900 А при положительной полярности освещенного электрода фототок / ( 3900 А) довольно слабо зависит от температуры в отличие от тока / - ( 3900 А), наблюдаемого при отрицательной полярности освещенного электрода.  [14]

15 График зависимости кулоновской энергии связи Е в диэлектрике, создаваемой взаимодействием заряда с его зеркальным изображением q, от расстояния до поверхности металла г, Ес - зона проводимости диэлектрика. [15]



Страницы:      1    2    3