Cтраница 4
Большинство исследователей считает, что в аморфных линейных полимерах цепи располагаются приблизительно параллельно друг другу, и поэтому ( величина d, равная - 5 0 А, характеризует среднее расстояние между соседними цепями. Подтверждением этого предположения являются рентгенограммы рассмотренных ранее аморфных текстур. При образовании аморфной текстуры широкие рефлексы образуются на экваторе рентгенограммы, в то время как ось макромолекулы направлена вдоль меридиана. Такой характер рентгенограммы доказывает, что широкие рефлексы на экваторе характеризуют ближний порядок именно в межмолекулярных расстояниях IB плоскости, перпендикулярной осям цепей. [46]
Большинство исследователей считает, что в аморфных линейных полимерах цепи располагаются приблизительно параллельно друг другу, и поэтому величина d, равная - 5 0 А, характеризует среднее расстояние между соседними цепями. Подтверждением этого предположения являются рентгенограммы рассмотренные ранее аморфных текстур. При образовании аморфной текстуры широкие рефлексы образуются на экваторе рентгенограммы, в то время как ось макромолекулы направлена вдоль меридиана. Такой характер рентгенограммы доказывает, что широкие рефлексы на экваторе характеризуют ближний порядок именно в межмолекулярных расстояниях в плоскости, перпендикулярной осям цепей. [47]
Детальный анализ [113] такого типа рентгенограмм показывает, что их появление обусловлено дифракцией на микрофибриллах с перекошенными кристаллитами, как это изображено на рис. III. Он зависит от условий вытяжки. При низкотемпературной вытяжке четырехточечный характер рентгенограммы проявляется при меньших степенях удлинения. [48]
Определение постоянной решетки образцов в области температур 800 - 1100 и времен 30 - 60 минут показало, что постоянная решетки практически не изменяется в пределах погрешности определения и равна 8.351 А. Однако линии на рентгенограмме, отвечающие большим углам отражения, получены размытыми, а интенсивность их быстро ослабевает по мере увеличения угла отражения. Четкость линий увеличивается с ростом температуры обжига. Выяснено, что такой характер рентгенограмм обусловлен не аппаратурными погрешностями. Примечательным является и тот факт, что цвет порошков монотонно изменяется от светло-коричневого до сиреневого и далее до сизо-черного по мере увеличения температуры и времени ферритизации. Полученный характер рентгенограммы показал, что в решетке шпинели имеет место неупорядоченность атомов. Причиной ее может являться изменение обращенности решетки шпинели. [49]
Исследование поликристаллических материалов методом порошка в подавляющем большинстве случаев не дает достаточных данных для расшифровки тонкой структуры кристаллических веществ, хотя в некоторых редких случаях по порошкограмме удается даже расшифровать атомную структуру вещества. Задача инди-цирования рентгенограмм по методу порошка при неизвестных параметрах решетки однозначно решается только для кристаллов с высокой симметрией. Применение метода порошка для этой цели при низкой сингонии кристалла возможно в отдельных частных случаях при малых параметрах ячейки. Вместе с тем исследование поликристаллических материалов позволяет успешно решать целый ряд разнообразных задач. В табл. 11 приведены данные для выбора метода и соответственно схем съемки в зависимости от задачи рентгенографического анализа, параметров, анализируемых на рентгенограмме, и требований к характеру рентгенограмм. [50]