Cтраница 2
Показания дозиметрического прибора изменяются от измерения к измерению из-за случайного характера процесса радиоактивного распада, и чем меньше измеряемое значение, тем больше эти отличия. Для уменьшения погрешности измерения необходимо увеличивать время экспозиции, а в приборах с фиксированным временем измерения рекомендуется проводить их 3 - 10 раз. [16]
Диффузной н ы и ш у м, обусловленный случайным характером процесса диффузии. Флуктуации процесса диффузии приводят к возникновению локальных флуктуации плотности носителей заряда. В ПП материалах этот процесс служит причиной тепловых шумов, в 1111 приборах с электронно-дырочными переходами - дробового шума. [17]
Флуктуации не связаны с тепловым движением, а вызываются случайным характером процесса излучения. [18]
Вакуумный диод, работающий в режиме насыщения, является источником шума вследствие случайного характера процесса термоэлектронной эмиссии. Среднеквадратическое значение шумового тока диода определяется известным выражением nl ] / 2e / sA / t, где е - заряд электрона ( е 1 6 - 10 - 19 Кл); ls - ток насыщения, А; Д / - полоса пропускания устройства, на вход которого поступает ток насыщения диода, Гц. Вакуумные диоды, например типа 2Д2С, генерируют шум в диапазоне частот 1 - 600 МГц. Напряжение и уровень спектральной плотности мощности на выходе генератора регулируется изменением тока накала диода. [19]
Шумы в вакуумном диоде, находящемся в режиме насыщения, возникают вследствие случайного характера процесса термоэлектронной эмиссии - анодный ток непрерывно изменяется вокруг своего среднего значения. Эта переменная составляющая анодного тока называется шумовым током. К) - 9 к); / - ток насыщения, а; А / - полоса пропускания устройства, на вход которого поступает ток насыщения, гц. [20]
Шумы в вакуумном диоде, находящемся в режиме насыщения, возникают вследствие случайного характера процесса термоэлектронной эмиссии - анодный ток непрерывно изменяется вокруг своего среднего значения. Эта переменная составляющая анодного тока называется шумовым током. [21]
Преимущественное протекание реакции на концевых связях объясняет также, почему найденные из допущения о случайном характере процесса теоретические значения-29 6 и 66 7 % для максимального и общего количества биозы в системе [ уравнения ( 21) и ( 22) ] практически никогда не достигаются. Неизбежность такого расхождения становится очевидной, если учесть, что биоза образуется только при разрыве второй связи от конца, в то время как разрыв концевых связей протекает со скоростью, почти в 3 раза большей. Поэтому образуется значительно большее количество молекул глюкозы, не бывших звеньями молекул биозы, чем можно ожидать для процесса, протекающего только по закону случая. [22]
СС практически невозможно из-за разнородности физических принципов работы элементов, широкого спектра эксплуатационных воздействий и случайного характера процессов в объектах прогнозирования. [23]
При этом абсолютные значения скоростей и ускорений частиц воды в некоторой точке в любой момент времени остаются неизвестными, что обусловлено случайным характером процесса нерегулярного волнения. [24]
Рассеивание нагрузок, скоростей, температур, влажности, запыленности и других показателей среды, в которых работает машина, является основной причиной случайного характера процесса изменения выходных параметров изделия. [25]
Рассеивание нагрузок, скоростей, температур, влажности, запы ленности и других показателей среды, в которых работает машина, является основной причиной случайного характера процесса изменения выходных параметров изделия. [26]
Если, несмотря на увеличение количества опорных точек, устойчивых значений параметров а получить не удается, вид корней базисного уравнения также получается р-аз-личным, то это свидетельствует о случайном характере процесса. [27]
Сюда относятся тепловые и нетепловые шумы резисторов и флуктуационные шумы, генерируемые каждым усилительным элементом: в случае электронных ламп - это дробовые шумы анодного и сеточного токов, шумы, обусловленные фликкер-эффектом катода; в случае транзисторов - генерационно-рекомбинационныи шум, создаваемый спонтанными флуктуациями скорости генерации и рекомбинации носителей, диффузионный шум, порождаемый случайным характером процесса диффузии, и модуляционный шум, обусловленный некоторыми процессами модуляции. В зависимости от свойств отдельных составляющих шумов транзисторов их иногда делят на тепловой, дробовый и фликкер-шум по аналогии с электронными лампами. [28]
Случайный характер процессов генерации и рекомбинации носителей на этих центрах вызывает медленные флуктуации тока через полупроводник. [29]
Как следует из формулы (6.7), эта вероятность пропорциональна кубу частоты излучения. Независимый, случайный характер процессов спонтанного излучения атомов проявляется в том, что различные атомы излучают неодновременно и независимо. Поэтому фазы, направления распространения и состояния поляризации разных цугов волн не согласованы друг с другом. [30]