Характеристика - объектив
Cтраница 1
Характеристики объектива при этом не изменятся. [1]
 |
Кривые пропускания светофильтров.| Увеличение микроскопа. [2] |
Характеристика объективов и окуляров дана в приложениях VI и VII ( стр. [3]
Характеристика объектива определяется увеличением, нумериче-ской апертурой и фокусным расстоянием. Чем короче фокусное расстояние объектива, тем большее увеличение он дает. [4]
В табл. 4.6 приведены характеристики симметричных двух-линзовых объективов для ряда разрешений и фокусных расстояний линз. Данные табл. 4.6 показывают, что простейший симметричный дифракционный объектив по уровню остаточных аберраций не уступает многим известным объективам этого класса [16] существенно более сложной конструкции. [5]
В табл. 5.3 даны также характеристики объективов, параметры которых найдены путем оптимизации схем, полученных из аберрационного расчета. [6]
 |
Номинальные значения нормальных фокусных расстояний объективов. [7] |
В табл. 4.50 - 4.53 приведены характеристики объективов. [8]
Выдержка при съемке определяется не только свойствами фотоматериала, характеристиками объектива и условиями освещения. При этом выдержка должна быть тем короче, чем быстрее движется объект съемки относительно фотоаппарата, чем ближе направление движения объекта к перпендикуляру к оптической оси объектива фотоаппарата, чем длиннее фокусное расстояние объектива, чем ближе объект съемки к фотоаппарату. [9]
Требования к аберрациям могут быть самые различные в зависимости от назначения и характеристик объектива. Например, в широкоугольном объективе Гипергон сферическая аберрация совсем ие исправлена; в объективе Пецваля кривизна поля не только не исправлена, но оказывается большей, чем в компонентах малой толщины. [10]
Сведения, приведенные в сводных таблицах и графиках раздела V, дают представление о характеристиках объективов и окуляров микроскопа, а также об источниках света и светофильтрах, используемых в микроскопии. [11]
От микрообъектива он отличается отсутствием хроматической коррекции, поэтому для изготовления требующихся несклеенных дублетов может быть использовано стекло одного типа. В табл. 2.3 приведены характеристики типичного объектива. [12]
Тем не менее все вышеперечисленные типы объективов не удовлетворяют полностью требованиям фотоуменьшения. Кроме того, требования к характеристикам объективов становятся все более и более жесткими. Тенденция всевозрастающей степени интеграции требует все большего уменьшения ширины линий рисунка и увеличения размеров кристалла. [14]
Для компенсации монохроматических аберраций третьего порядка в рассматриваемой системе, как и при отсутствии подложек, существуют семь параметров, на которые также накладываются три условия (4.19), обеспечивающие сопряжение элементов объектива, заданные увеличение и габаритные размеры. Толщины и показатели преломления шюскопараллельных подложек влияют на характеристики объектива, но не служат кор-рекционными параметрами. Как следует из выражений ( 2.31) - (2.36), подложки, особенно тонкие, по сравнению с отрезками линз, не меняют структуры и знаков аберраций ДЛ, лишь слабо влияя на их значения и соотношения между собой. [15]
Страницы: 1 2