Cтраница 1
Характеристики нескорректированной системы приведены на рис. 03 - 5 - 3 пунктирными линиями. Там же сплошными линиями приведены характеристики скорректированной системы, которая устойчива. Запас по фазе и амплитуде удовлетворяет заданным требованиям. [1]
Характеристики нескорректированной системы приведены на рис. 03 - 5 - 3 штриховыми линиями. Там же сплошными линиями приведены характеристики скорректированной системы, которая устойчива. Запас по фазе и амплитуде удовлетворяет заданным требованиям. [2]
При частоте шо 250 характеристика нескорректированной системы принимает дополнительный наклон в 20 дб / дек, и, следовательно, для выполнения поставленного условия наклон асимптоты желаемой характеристики следует увеличить также на 20 дб / дек. Тогда желаемая характеристика на участке частот от к2 до в3ЮО должна иметь наклон 40 дб / дек. [3]
В результате их построения находим характеристику нескорректированной системы. [4]
На рис. 3 - 4 приведены логарифмические амплитудно-частотная LKC ( со) и фазо-частотная фнс ( со) характеристики нескорректированной системы. [5]
На рис. 5 - 4 приведены логарифмические амплитудно-частотная LHC ( со) и фазо-частотная срнс ( со) характеристики нескорректированной системы. [6]
Через найденную таким образом точку ас проводим средне-частотную асимптоту с наклоном 20 дб / дек, с тем чтобы она больше приближалась к наклону характеристики нескорректированной системы. [7]
В практике проектирования для упрощения расчетов и получения более простых корректирующих устройств часто пользуются правилом, что требуемая логарифмическая амплитудная характеристика в диапазоне средних частот должна иметь наклон - 20 дб / дек, а при низких и высоких частотах по возможности приближаться к характеристике нескорректированной системы. [8]
Возможная форма желаемой логарифмической амплитудной характеристики Z c ( u) приведена на рис. IV-25. На этом же рисунке приведены: характеристика нескорректированной системы L ( со), характеристика звеньев, не охваченных обратной связью LH oxe ( m), и характеристика цепи обратной связи LOC (), обеспечивающая желаемую характеристику Z. [9]
Так как на высокие частоты система почти не реагирует и высокочастотная часть характеристики мало сказывается на качестве системы, то при построении ее целесообразно исходить из условия получения наиболее простого корректирующего устройства. Обращаясь к построенным асимптотам, замечаем, что до частоты u) o i - 10 характеристики идут параллельно с наклоном 20 дб / дек, а затем характеристика нескорректированной системы имеет наклон 40 дб / дек, вследствие чего разность в наклоне характеристик составляет 20 дб / дек. Для упрощения корректирующего устройства величину этой разности следует сохранить и при высоких частотах. [10]
Приступаем к построению желаемой характеристики. Так как требуемый порядок астатнзма N, то в низкочастотной области ( о 0 1) асимптота характеристики должна иметь наклон 20 дб / дек к совпадать с характеристикой нескорректированной системы до ранее полученной точки А. Если низкочастотная асимптота определяет поведение системы при низких частотах, при которых система достаточно точно следует за задаваемыми сигналами, то среднечастотная асимптота характеризует качественные показатели переходного процесса, которые особенно тесно связаны с частотой среза. [11]
В соответствии с этим различают синтез последовательных и параллельных корректирующих устройств. При этом решение задач синтеза кратко сводится к следующему: сначала устанавливается общая структура схемы и характеристика неизменной ( нескорректированной) части системы. Затем по заданному качеству и предъявленным требованиям определяется желаемая форма характеристика скорректированной системы. Далее определяется характеристика, схемы и параметры корректирующих устройств, обеспечивающие такое изменение характеристики нескорректированной системы, при котором видоизмененная характеристика максимально приближалась бы к требуемой. [12]