Аберрационная характеристика
Cтраница 1
Аберрационные характеристики служат для оценки качества создаваемого оптической системой изображения в зависимости от габаритных характеристик и конструктивных параметров, оптических деталей системы, таких, как радиусы кривизны, толщина и тип оптического материала деталей. Аберрационные характеристики позволяют определить, насколько точно оптическая система воспроизводит изображение наблюдаемого объекта, характер и величину искажений изображения. [1]
Аберрационные характеристики объектива позволяют в определенных случаях получить высокое качество изображения по полю, превышающему световой диаметр ( табл. 4.6), что важно для ряда применений. [2]
 |
Сложные зеркальные объективы. [3] |
Аберрационные характеристики сложной системы определяются путем суммирования со своими знаками аберрационных характеристик отдельных элементов. Для компенсации аберраций основного зеркала вторичное зеркало подбирают с равными по величине, но противоположными по знаку аберрациями. [4]
Относительное отверстие зеркального объектива ограничивается его аберрационными характеристиками, при этом кружок рассеяния, обусловленный аберрациями, не должен превышать размеров приемника излучения. [5]
 |
Сложные зеркальные объективы. [6] |
Аберрационные характеристики сложной системы определяются путем суммирования со своими знаками аберрационных характеристик отдельных элементов. Для компенсации аберраций основного зеркала вторичное зеркало подбирают с равными по величине, но противоположными по знаку аберрациями. [7]
Расчеты методом прослеживания хода лучей, проведенные при габаритном размере системы L 810 мм, показали, что аберрационные характеристики описанной схемы находятся на уровне двухлинзового дифракционного объектива. Результаты расчетов сведены в табл. 5.4, где в первой графе даны параметры чисто теоретического варианта, во второй - оптимизированного теоретического варианта: в этом случае при сохранении нулевой толщины линз Смита и нулевых отрезках объектива несколько нарушается условие Пецваля и компенсирующая ДЛ приобретает небольшую оптическую силу. В третьей графе приведены параметры оптимизированного реализуемого варианта: линзы Смита имеют конечную толщину, причем отрезки объектива равны этой толщине. Интересно отметить, что минимальная пространственная частота получена как раз для реализуемого варианта объектива, что позволяет рассчитывать на работоспособность рассмотренной оптической системы при освещении предметной плоскости светом от некогерентных источников ( см. гл. [8]
Простейшие ( двух - и трехлинзовые) объективы на основе дифракционных оптических элементов ( ДОЭ) оказались способны конкурировать по своим аберрационным характеристикам со сложными многокомпонентными рефракционными монохроматами. Однако есть два существенных недостатка, присущих дифракционным системам и ограничивающих область их применения. Первый состоит в невозможности обеспечить высокое светопро-пускание объектива, когда у входящих в него ДЛ высокая пространственная частота структуры, и обусловлен существующим уровнем технологии изготовления ДЛ ( см. гл. Второй недостаток заключается в том, что сильный хроматизм дифракционных элементов исключает возможность работы с немонохроматическими источниками света ( см. гл. [9]
Аберрационные характеристики служат для оценки качества создаваемого оптической системой изображения в зависимости от габаритных характеристик и конструктивных параметров, оптических деталей системы, таких, как радиусы кривизны, толщина и тип оптического материала деталей. Аберрационные характеристики позволяют определить, насколько точно оптическая система воспроизводит изображение наблюдаемого объекта, характер и величину искажений изображения. [10]
Пейсахсона посвящена вогнутым дифракционным решеткам, играющим исключительную роль в коротковолновой ультрафиолетовой области спектра. Главное внимание обращено здесь на аберрационные характеристики и сопоставление с этой точки зрения решеток с различными законами нанесения штрихов и различных схем их установок. [11]
ДЛ и асферики, свободен от всех монохроматических аберраций третьего и пятого порядков за исключением второй комы и синусной дисторсии. Таким образом, по своим аберрационным характеристикам этот объектив удовлетворяет требованиям, предъявляемым к фурье-преобразующим системам, поэтому схему высокоразрешающего анализатора целесообразно строить именно на его основе. [12]
Однако вторая линза обладает значительной сферической аберрацией, в результате чего пятно увеличивается иногда в 2 - 3 раза против расчетного. Распределение плотности тока в развертывающем пятне зависит от аберрационных характеристик второй линзы, но практически не получается больших погрешностей, если полагать, что плотность тока в пятне подчиняется тому же статическому закону распределения, что и плотность тока в скрещении. [13]
Двухлинзовый объектив был рассмотрен выше без учета подложек ДЛ, которые обязательны в схеме. Покажем, что введение плоскопараллельных подложек принципиально не изменяет аберрационных характеристик объектива, хотя и существенно влияет на расчет конструктивных параметров системы. [14]
 |
Графическая интерпретация эффекта световозвращения.| Пространственно-частотные характеристики идеального СВ. [15] |
Страницы: 1 2