Cтраница 1
Пространственно-частотные характеристики начали использовать в практике проектирования и испытания оптических и оптико-электронных приборов сравнительно недавно. Разработка теории и методов применения этой группы характеристик для оценки оптических систем обусловлена необходимостью согласования их входных параметров, определяющих свойства и качество изображения, с характеристиками приемников излучения, усилителей и систем последующей обработки полученной информации. Этим объясняется большая аналогия в терминологии и методах расчета между пространственно-частотными характеристиками и характеристиками автоматических систем регулирования. [1]
Пространственно-частотные характеристики получают, используя миры разных типов, установленные на фоне равномерного теплового потока. Оценка разрешающей способности сводится к нахождению минимального расстояния между элементами миры, при котором эти элементы передаются раздельно. [2]
![]() |
Графическая интерпретация эффекта световозвращения.| Пространственно-частотные характеристики идеального СВ. [3] |
К пространственно-частотным характеристикам относятся аберрационная функция зрачка ( АФЗ), функция рассеяния ( ФР) СВ и его оптическая передаточная функция ( ОПФ), которые описывают преобразующие свойства оптической системы СВ соответственно в пространственных и частотных координатах для данной длины волны зондирующего излучения. [4]
![]() |
Эквивалентная схема оптической системы. [5] |
С помощью пространственно-частотных характеристик опреде-ляют изменение разрешающей способности оптической системы и качество получаемых изображений в зависимости от условий обзора ( движения объекта), степени и характера изменения контраста, влияния - неоднородностей фонов и других факторов, создающих изменение частотно-временных условий формирования изображения. [6]
Переходим к учету пространственно-частотных характеристик прибора и пространственных статистических свойств неравномерно излучающего фона. [7]
Для исключения искажающего влияния реальных пространственно-частотных характеристик используемого акустического преобразователя применяется метод эталонной голограммы, позволяющий повысить разрешающую способность от полутора до трех раз в зависимости от качества используемого преобразователя. [8]
Оно представляет собой связь амплитудного пропускания голограммы с пространственно-частотными характеристиками голографируемого плоского предмета. [9]
Основное соотношение ( 128) позволяет оценить зависимость минимальных размеров обнаруживаемого дефекта от контраста рентгеновской плотности и формы дефекта, пространственно-частотных характеристик томографа и уровня шумов томограммы. [10]
Основное соотношение ( 128) позволяет оценить зависимость минимальных размеров обнаруживаемого дефекта от контраста рентгеновской плотности и формы дефекта, пространственно-частотных характеристик томографа и уровня шумов томограммы. [11]
Случайные погрешности реконструкции, обусловленные квантовой природой рентгеновского излучения, принципиально не устранимы и их анализ позволяет однозначно оценить предельные возможности Метода ПРВТ при фиксированном числе квантов, сформулировать требования к экспозиции, энергии излучения, точности измерения проекций и пространственно-частотным характеристикам томограмм, обеспечивающим необходимый уровень метрологии. [12]
Случайные погрешности реконструкции, обусловленные квантовой природой рентгеновского излучения, принципиально не устранимы, и их анализ позволяет однозначно оценить предельные возможности метода ПРВТ при фиксированном числе квантов, сформулировать требования к экспозиции энергии излучения, точности измерения проекций и пространственно-частотным характеристикам томограмм, обеспечивающим необходимый уровень метрологии. [13]
В системах Авгур предусмотрена возможность использования обоих алгоритмов восстановления изображения: ОВ и ПСП. Для исключения искажающего влияния реальных пространственно-частотных характеристик преобразователя в алгоритме ПСП применяется способ эталонной голограммы, которую снимают для данного преобразователя по отражению от бокового цилиндрического отверстия. [14]
![]() |
Фокусное расстояние ОС. / - главная плоскость. 2, 3 - линзы.| Определение входного отверстия ОС. [15] |