Частотно-контрастная характеристика - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Если бы у вас было все, где бы вы это держали? Законы Мерфи (еще...)

Частотно-контрастная характеристика

Cтраница 1


1 Схема записи голограммы точечного объекта S.| Частотно-контрастная характеристика регистрирующего материала. [1]

Частотно-контрастная характеристика выражает зависимость контраста полос от пространственной частоты.  [2]

3 Схема записи голограммы точечного объекта S.| Частотно-контрастная характеристика регистрирующего материала. [3]

Частотно-контрастная характеристика К, ( F) данного гологра-фического регистрирующего материала определяется зависимостью контраста амплитудного пропускания материала от пространственной частоты регистрируемой синусоидальной картины.  [4]

Частотно-контрастная характеристика является важной характеристикой волоконных планшайб для электроннолучевых трубок, так как из-за малой высоты планшайбы часть лучей, вошедших в волокно и упавших на поверхность раздела жилы и оболочки под углом, меньшим критического, или рассеянные на каких-либо неоднородностях, могут дойти до выходной торцевой поверхности и засветить торец, что приводит к снижению контраста передаваемого изображения.  [5]

6 Частотно-контрастная характеристика волоконных планшайб. [6]

Частотно-контрастная характеристика для данной частоты объекта, изображение которого передается через волоконный элемент, вследствие дискретной структуры элемента не является величиной постоянной. Она изменяется при повороте или смещении световода относительно объекта. Поэтому важно знать, в каких пределах она изменяется.  [7]

Частотно-контрастная характеристика определяется двумя числами k и р, эти числа зависят от частоты миры, от длины волны и направления штрихов миры. X ] - изложена методика расчета ЧКХ как с учетом дифракции, так н без ее учета.  [8]

9 Графики частотно-контрастных характеристик двух объективов. [9]

Частотно-контрастная характеристика может быть найдена на всех стадиях фотопроцесса от получения оптического изображения до получения отпечатка. Общую характеристику всей изображающей системы находят умножением отдельных ЧКХ съемочного объектива, негативного фотоматериала, объектива фотоувеличителя, фотобумаги.  [10]

11 Определение частотно-контрастной характеристики. [11]

Частотно-контрастная характеристика ( ЧКХ) фотослоя показывает его разрешающие возможности вне зависимости от условий химико-фотографической обработки и других факторов. В ней сочетаются показатели двух свойств фотоматериала: его способность передавать мелкие детали объекта съемки и их контраст.  [12]

13 Формирование структуры электронного пучка, фигур рассеяния и волнового фронта в магнитной линзе со сферической аберрацией. / - плоскость предмета. 2-распределение индукции В ( z магнитного поля линзы вдоль оси z. 3-апертурная диафрагма. 4 - волновой фронт при отсутствии сферической аберрации ( сферическая поверхность. 5 - реальный волновой фронт ( искажен сферической аберрацией. 6-приосевые лучи. 7-периферийные лучи. S-наименьший кружок рассеяния, радиус которого равен 6 / 4. 9-гауссова плоскость изображения. 10 - кружок рассеяния в гауссовой плоскости изображения, радиус которого равен.| Частотно-контрастная характеристика магнитной линзы. / - при когерентном освещающем объект пучке и отсутствии хроматической аберрации. 2-при некогерентном освещающем объект пучке и влиянии хроматической аберрации. 3-огибающие частотно-контрастной характеристики. [13]

Реальная частотно-контрастная характеристика, полученная с учетом хроматической аберрации и некогерентности освещающего объект пучка, представлена на рис. 2 сплошной линией. Это - затухающая при высоких пространственных частотах кривая, огибающие к-рой, изображенные штрих-пунктирной линией, с ростом R приближаются к оси абсцисс. Она получена для оптимальной дефокусировки Д /, при к-рой предельная частота / fo максимально сдвинута в сторону высоких частот при отсутствии глубоких провалов на промежуточных частотах.  [14]

Частотно-контрастная характеристика термопластического носителя является квазирезонансной. Положение максимума характеристики также определяется толщиной материала и, в значительно меньшей степени, приложенным напряжением.  [15]



Страницы:      1    2    3    4    5