Логарифмическая амплитудная характеристика

Cтраница 3

Таким образом, логарифмическая амплитудная характеристика состоит из двух характерных участков. Для интервала низких частот, при которых со2Г2 1, характеристика представляет прямую линию, параллельную оси абсцисс. При К 1 эта часть характеристики совпадает с осью абсцисс. [31]

После приближенного построения логарифмической амплитудной характеристики можно ее уточнить, внеся поправки, что особенно важно для колебательных звеньев. Для апериодических звеньев поправки могут потребоваться, если сопрягающая частота находится на важном участке в интервале существенных частот. [32]

Для построения желаемой логарифмической амплитудной характеристики находим из выражения ( 12) частоту среза, задавшись временем / Р из условий работы системы. [33]

Возможная форма желаемой логарифмической амплитудной характеристики Z c ( u) приведена на рис. IV-25. На этом же рисунке приведены: характеристика нескорректированной системы L ( со), характеристика звеньев, не охваченных обратной связью LH oxe ( m), и характеристика цепи обратной связи LOC (), обеспечивающая желаемую характеристику Z. [34]

Таким образом, логарифмическую амплитудную характеристику можно приближенно представить в виде двух отрезков прямых: одного параллельного оси абсцисс, другого с наклоном минус 20 дб / дек. [35]

Следовательно, при kl логарифмическая амплитудная характеристика апериодического звена второго порядка просто складывается из характеристик двух апериодических звеньев. [36]

Существует ряд методов получения логарифмических амплитудных характеристик ( ЛАХ) усилителей. [37]

Логарифмические амплитудные характеристики, иллюстрирующие влияние статических коэффициентов ошибки. [38]

Тип системы определяет форму логарифмической амплитудной характеристики при низких частотах, а высота этой части характеристики определяется статическими коэффициентами ошибки. Пересечение продолжения начального наклона логарифмической амплитудной характеристики с линией ш 1, в зависимости от примененного типа системы, будет соответственно равно 20 lg Ks, 20 lg К0 или 20 lg Ka. [39]

Типовая логарифмическая частотная характеристика разомкнутой системы. [40]

Таким образом, наклон логарифмической амплитудной характеристики в области существенных частот определяет запас устойчивости системы, ширина области существенных частот - величину максимального отклонения в процессе регулирования, а абсолютная величина частоты среза - время регулирования. [41]

Коррекция системы интег-ро-дифференцирующей цепью. [42]

Если частота среза желаемой логарифмической амплитудной характеристики лежит правее частоты среза некорректированной системы, то коррекция возможна лишь при увеличении коэффициента усиления всей системы. Это не всегда возможно, так как увеличение коэффициента системы может привести к потере устойчивости. [43]

Диаграммы Боде для ( / io. [44]

В этом случае наклон логарифмической амплитудной характеристики равен - 20 N дБ / дек. [45]

Страницы: 1 2 3 4