Cтраница 3
Это позволило создать книгу на высоком научно-теоретическом уровне, в которой основное внимание уделено не общей характеристике методов, а возможности их использования в химии гетероциклических соединений. [31]
Прежде чем перейти к рассмотрению отдельных моментов и положений, связанных с организацией работ и мерами безопасности при Запахе газа в смежной газопроводу подземной коммуникации ( вторая тема Плана ликвидации возможных аварий), необходимо остановиться на двух конкретных вопросах. Первый из них связан с краткой характеристикой городских, подземных коммуникаций и сооружений на них ( колодцев), второй - с общей характеристикой методов и приемов проверки окружающей среды на месте аварии ( в основном грунта) с целью определения местонахождения утечки газа из подземного газопровода. [32]
При построении Гюйгенса наглядно выявляется несовпадение необыкновенного луча с нормалью к волновому фронту в кристалле. Но при общей характеристике метода Гюйгенса необходимо учитывать его недостаточность по сравнению с электромагнитной теорией света. [33]
Данное учебное пособие предназначено для студентов химико-технологических факультетов высших учебных заведений. В Практикуме представлены теория и лабораторные работы по аналитической химии и физико-химическим ( инструментальным) методам анализа. Принята единая схема изложения материала: сначала приводится общая характеристика метода, затем описание теоретических положений конкретного анализа и методика его выполнения с подробным перечнем всех реактивов, оборудования и приборов, необходимых при выполнении эксперимента. [34]
Автор излагает здесь материал таким образом, чтобы вооружить читателя логикой выбора наиболее подходящего метода для выращивания нужного кристалла. В основе такой логики лежит физико-химическая сущность явлений роста, которая и сделана стержнем изложения. Изложение основных методов выращивания следует единой для всей книги схеме: 1) физико-химические основы и общая характеристика метода, показания и противопоказания для его использования, 2) аппаратура, обычно в виде принципиальных схем и 3) способы получения конкретных кристаллов и их характеристики. Осуществляя эту схему, автор концентрирует внимание прежде всего на качественном описании явлений ростр кристалла и дает ориентировочные численные параметры процесса. Технологические приемы также увязываются с процессами роста и образования дефектов. Весь этот обширный, в известной степени энциклопедический материал изложен интересно, ясно, очень по-деловому и с большим педагогическим мастерством. [35]
Издательство Химия приступает к выпуску новой многотомной серии монографий Методы аналитической химии. Особое внимание предполагается уделить физическим и физико-химическим методам. Будет дана общая характеристика метода, освещены его теоретические основы, аппаратура, основные варианты метода и их особенности, приемы работы, типичные и наиболее важные примеры использования, включая отдельные методики. В разделе, относящемся к применению метода, будут описаны способы производственного контроля, в том числе использование анализаторов. [36]
Метод эмиссионного спектрального анализа широко применяется для определения ртути в цветных и редких металлах. Для определения ртути в металлах с чувствительностью 1 - 10 - 5 % в большинстве случаев используют угольные электроды обычной формы. Чаще всего определяют ртуть по линии 2536 5 А. В табл. 22 дана общая характеристика методов определения ртути в некоторых металлах с использованием отечественных спектрографов ИСП-22 и ИСП-28. В основе метода лежит термическая возгонка ртути из образцов металла. [37]
Методы топографии, позволяющие непосредственно наблюдать изображения различных дефектов в данном образце, приобрели важное практическое значение и широко распространены в настоящее время. Расшифровка топограмм, основанная на качественной трактовке динамического рассеяния, хотя и не всегда однозначна, но во многих случаях дает полезную информацию о реальной структуре объектов исследования. Отметим, что анализ рентгеновских топограмм имеет много общего с расшифровкой электронно-микроскопических снимков, что является существенным ввиду значительных успехов динамической теории рассеяния электронов в деформированных кристаллах. Развитие рентгеновской топографии за последние 10 - 15 лет связано с именами Ланга, Отье, Ньюкирка, Бонзе, Швутке, Елистратова, Миускова и других авторов. Общая характеристика методов рентгеновской топографии и библиография содержатся в сборнике [37], вышедшем под редакцией и с послесловием Елистратова. [38]