Cтраница 1
![]() |
Приращение оптического пути. [1] |
Термооптическая характеристика Р пропорциональна усредненной для двух ортогональных поляризаций волновой аберрации ( искажению формы плоского волнового фронта после прохождения элемента); для параболического распределения температуры Р пропорциональна оптической силе термической линзы. [2]
В работе [2] введены термооптические характеристики сред, которые широко используются для описания термооптических искажений в активных элементах из стекла и некоторых анизотропных материалов. [3]
В работе [2] были выведены термооптические характеристики Р и Q и обращено внимание на универсальность описания с их помощью искажений также и в пластинчатых активных элементах. [4]
![]() |
Ориентация кристаллографических осей в активных элементах. [5] |
В табл. 6 приведены численные значения термооптических характеристик для АИГ: Nd, как вычисленные по формулам табл. 5, так и измеренные экспериментально. [6]
В работах [43, 122] измерен температурный коэффициент термооптической характеристики W и указано [122] на возможность получения стекол с уменьшенной зависимостью W от температуры. [7]
Из вышеизложенного следует, что наличие температурной зависимости термооптических характеристик накладывает ограничения на возможность полного устранения термооптических искажений подбором состава стекла. [8]
Кроме такой неопределенности в значениях оптимальной температуры Тп, обусловленной температурным ходом термооптических характеристик, на практике она дополнительно несколько размывается отклонениями в реальном распределении температуры от принятого нами идеализированного параболического закона. [9]
![]() |
Схема образования аналитического сигнала в методе фототермического отклонения. [10] |
Термолинзовую спектроскопию применяют для высокочувствительного определения окрашенных соединений, а также для определения термооптических характеристик растворителей. Кроме того, термолинзовый детектор используют в высокоэффективной жидкостной ( колоночной) хроматографии, проточно-инжекционном анализе. Фототермическую рефрактометрию применяют для решения аналогичных задач. Кроме того, вследствие высокого пространственного разрешения фототермическую рефрактометрию используют в капиллярной хроматографии, методах капиллярного зонного электрофореза и методах локального анализа жидкостей. [11]
В общем случае характер объемных термооптических неоднородностей зависит от геометрии АЭ и специфики термооптических характеристик материала. [12]
Обсудим теперь те неприятные с точки зрения компенсации термооптических искажений последствия, к которым приводит температурный ход термооптических характеристик. [13]
Из формул табл. 5 и данных табл. 6 видно, что в активных элементах из кристаллов класса m3m термооптические характеристики W и Р практически не зависят от взаимной ориентации оси z активного элемента и осей кристалла. Для этой ориентации термооптическое поведение активного элемента из АИГ: Nd полностью аналогично поведению стеклянного элемента. [14]
Непосредственным разработчикам активных лазерных сред и конструкций твердотельных лазеров приходится экспериментально определять такие характеристики и параметры, как термооптические характеристики сред, эффективность и КПД осветителя, равномерность освечивания активного элемента, тепловыделение в активном элементе, распределение термооптических искажений и термомеханических напряжений в поперечном сечении активного элемента, энергетические и пространственно-временные характеристики пучка лазерного излучения. [15]