Ход - интенсивность
Cтраница 1
 |
Микрофотограмма дифракционной картины бензола [ 121. [1] |
Ход интенсивности на полученной кривой измеряют с помощью микрофотометра и, чтобы обеспечить однородность, полезно во время записи быстро вращать фотопластинку вокруг центра дифракционной картины. Типичная микрофотограмма приведена на рис. 5.3. Для получения кривой молекулярного рассеяния из такой микрофотограммы проводится монотонная кривая фона в предположении, что имеется одинаковое число положительных и отрицательных отклонений от последней кривой. [2]
Необычен был также ход интенсивности наблюдаемых линий. [3]
Необходимо подчеркнуть, что противоположный ход интенсивностей в паре линий пока не наблюдался ни п одной работе. Причины этого в настоящее время неясны. Обычно удается наблюдать только уменьшение интенсивности линии, принадлежащей более устойчивому изомеру, с ростом температуры. [4]
Более значительные отклонения от теоретического хода интенсивности линии в зависимости от частоты начинают появляться в области относительно малых интенсивностей в пределах длинно - и коротковолнового хвостов линии. [5]
В наиболее простых случаях можно рассчитывать более детально объяснить ход интенсивности в пределах коротковолнового участка полосы и связать его со строением соответствующих зон Бриллюэна, ограничивающих свободу движения электронов в кристаллической решетке изучаемого вещества. [6]
 |
Зависимость интенсивности. [7] |
Легко понять, что уравнение ( 4) неточно описывает ход интенсивности спектральной линии при изменении содержания определяемого элемента во всем интервале концентрации, если считать коэффициенты а и Ь постоянными. Действительно, элементарное рассмотрение показывает, что вблизи С 0 интенсивность линии прямо пропорциональна содержанию элемента в пробе. Это очевидно из чисто термодинамических соображений, согласно которым интенсивность температурного излучения любого термического источника не может превысить интенсивность, излучаемую в данном спектральном интервале абсолютно черным телом при той же температуре. [8]
Не проведено еще и определение размеров кристаллов и деформации решетки по ходу интенсивности интерференции и области больших углов с помощью теории паракристаллов. [9]
Ход темп-ры между соседними точками Т н 7 i определяется по относит, ходу интенсивности спектральной линии, принадлежащей г-кратно ионизованным атомам. Метод Фаулера - Ларспца пригоден лишь при 7 шах, ; 104 К. Среди недостатков метода следует отметить чувствительность значений Т даже к относительно небольшому ( и часто не контролируемому) содержанию примесей, а также известную неоднозначность Еи, зависящей от плотности заряженных частиц в плазме. [10]
 |
Кристаллическая структура каучука, а - вдоль оси с, б - вдоль оси Ь. в-вдоль оси. [11] |
Для того чтобы попытаться найти координаты атомов, прежде всего предполагаются нормальные междуатомные расстояния и углы связей ( и совершенно плоская группа с двойной связью), а затем, имея грубую оценку интенсивностей, передвигают атомы, руководствуясь только ходом интенсивностей рефлексов на рентгенограмме. [12]
 |
Интенсивность рассеяния рентгеновских лучей в жидком че. [13] |
На рис. 20 пунктирная кривая изображает ход интенсивности рассеяния рентгеновских лучей в жидком СС14 по экспериментальным данным Менке; сплошная кривая-результат теоретического расчета, проведенного при следующих предположениях. [14]
 |
Интенсивность рассеяния рентгеновских лучей в жидком че-тыреххлористом углероде ( по Менке. [15] |
Страницы: 1 2