Различный ход - кривая
Cтраница 2
Кривая 1 соответствует процессу возрастания контактного нажатия, кривая 2 - снижению нажатия. Различный ход кривых объясняется наличием остаточных деформаций отдельных бугорков, по которым происходило соприкосновение. [16]
 |
Зависимость переходного сопротивления контакта от силы нажатия. [17] |
Кривая / соответствует процессу возрастания контактного нажатия, кривая 2 - снижению нажатия. Различный ход кривых объясняется наличием остаточных деформаций отдельных бугорков, по которым происходило соприкосновение. [18]
 |
Зависимость переходного сопротивления от силы нажатия ( а и от температуры ( 6. [19] |
Эта зависимость в соответствии с уравнением ( 4 - 3) представлена на рис. 4 - 3, а. Кривая / соответствует процессу возрастания контактного нажатия, кривая 2 - снижению нажатия. Различный ход кривых объясняется наличием остаточных деформаций отдельных бугорков, по которым происходило соприкосновение. [20]
Эта зависимость в соответствии с уравнением ( 4 - 3) представлена на рис. 4 - 2, а. Кривая 1 соответствует процессу возрастания контактного нажатия, кривая 2 - снижению нажатия. Различный ход кривых объясняется наличием остаточных деформаций отдельных бугорков, по которым происходило соприкосновение. [21]
В работе [24, 90] нейтральный раствор FrCl выпаривали на платиновом диске диаметром 15 мм и последний нагревали при определенной температуре в интервале от 200 до 1000 С в течение 4 - - - - 20 мин. Аналогичные эксперименты были проведены с 2 10 - 8 г CsCl. Полное улетучивание FrCl достигается только при 800 С за время 10 мин. Начальная температура испарения FrCl зависит от времени нагревания: при 4 мин. Наблюдаемые различия в данных работ [20,44, 90] объясняются различными условиями проведения экспериментов. Известно [20] аномальное поведение ультрамалых количеств радиоэлементов при испарении с твердых поверхностей, обусловленное тем, что количества атомов в этом случае недостаточно для полного покрытия поверхности. Вследствие этого при испарении будут нарушаться связи не между сходными атомами или молекулами, как это происходит в случае испарения макроколичеств вещества, а между атомами радиоэлементов и атомами вещества подложки. Поэтому летучесть радиоэлементов зависит не только от их химических свойств, но и от природы твердой поверхности, состава скружаю-щей атмосферы ( об этом, в частности, свидетельствует различный ход кривых рис. 127), а также от способа осаждения радиоэлемента на твердую поверхность. Изотермы летучести FrCl с поверхности платины ( см. рис. 128) указывают на то, что скорость испарения малых количеств радиоэлементов при постоянной температуре уменьшается со временем. Это объясняется быстрым уменьшением количества атомов по мере их улетучивания. [22]
В работе [ 24, 901 нейтральный раствор FrCl выпаривали на платиновом диске диаметром 15 мм и последний нагревали при определенной температуре в интервале от 200 до 1000 С в течение 4 - - - - 20 мин. Аналогичные эксперименты были проведены с 2 10 - 8 г CsCl. Полное улетучивание FrCl достигается только при 800 С за время 10 мин. Начальная температура испарения FrCl зависит от времени нагревания: при 4 мин. Наблюдаемые различия в данных работ [20,44,90] объясняются различными условиями проведения экспериментов. Известно [20] аномальное поведение ультрамалых количеств радиоэлементов при испарении с твердых поверхностей, обусловленное тем, что количества атомов в этом случае недостаточно для полного покрытия поверхности. Вследствие этого при испарении будут нарушаться связи не между сходными атомами или молекулами, как это происходит в случае испарения макроколичеств вещества, а между атомами радиоэлементов и атомами вещества подложки. Поэтому летучесть радиоэлементов зависит не только от их химических свойств, но и от природы твердой поверхности, состава окружающей атмосферы ( об этом, в частности, свидетельствует различный ход кривых рис. 127), а также от способа осаждения радиоэлемента на твердую поверхность. Изотермы летучести FrCl с поверхности платины ( см. рис. 128) указывают на то, что скорость испарения малых количеств радиоэлементов при постоянной температуре уменьшается со временем. Это объясняется быстрым уменьшением количества атомов по мере их улетучивания. [23]
Страницы: 1 2