Время - сканирование
Cтраница 2
Однако при увеличении разрешения время сканирования возрастает, а масс-спектр становится сложным, и его интерпретация затрудняется. Поэтому анализ проводят обычно при минимальном разрешении, которое только допустимо для получения ожидаемых результатов. [16]
 |
Зависимости вероятности выявления дефектов от их условной ширины.| Расчетные зависимости изменения. [17] |
Зная огибающие последовательности эхо-сигналов во времени сканирования t и время Тя ( или N при данном F), нетрудно графоаналитически рассчитать снижение чувствительности Sn с увеличением скорости ос. [18]
Шум можно также уменьшить, увеличив время сканирования. [19]
Логично поставить требование, чтобы за время сканирования положение максимумов Фабри - Перо смещалось из-за нагревания эталона лазерным пучком не более чем на 1 / 20 полосы. [20]
Шум можно также уменьшить, увеличив время сканирования. [21]
 |
Зависимость интенсивности аналитической линии Мп 280 1 нм от времени горения дуги. [22] |
При использовании способов ДКЭ и СЭ время сканирования соответствует времени экспонирования во время съемки спектрограммы. Однако особый интерес представляет случай, когда эти два параметра можно изменять независимо. Методика исследования влияния скорости сканирования при одном и том же времени съемки спектрограммы реализуются с использованием дробного экспонирования. [23]
Общая продолжительность рабочего цикла ПЛК называется временем сканирования. Время сканирования в значительной степени определяется длительностью фазы кода пользовательской программы. Время, занимаемое прочими фазами рабочего цикла, практически является величиной постоянной. Для задачи среднего объема в ПЛК с системой исполнения CoDeSys время распределится примерно так: 98 % - пользовательская программа, 2 % - все остальное. [24]
Это явление происходит в источнике ионов во время сканирования спектра. [25]
Известен также ИК сканирующий микроскоп ГОИ со временем сканирования кадра 2 5 мин и температурным разрешением 1 С, линейное разрешение до 20 мкм. [26]
 |
Плоская решетка с последовательно-параллельным питанием. [27] |
Следует отметить, что ширина главного лепестка во время сканирования несколько изменяется: по мере отклонения от нормали к решетке луч расширяется. [28]
Таким образом, максимизация собственной индуктивности и минимизация времени сканирования ( выборки) приводят к максимальному входному импедансу системы. [29]
 |
Инструментальная ошибка за счет прохождения через ионосферу. [30] |
Страницы: 1 2 3 4 5