Cтраница 1
Зависимость фронтального диаметра пузыря от корня кубичного из его объема. [1] |
А-линия, проведенная по методу наименьших квадратов; о-точки, не вошедшие в корреляцию по методу наименьших квадратов. [2]
Если же а-линия, исходящая из точки О при приближении к ней вдоль ОВ, лежит внутри области BOA ( фиг. [3]
Спектры рентгеновского излучения от Sr90 Y90 для различных толщин мишеней из олова ( для пропускающих мишеней. 1 - 125 мг / см2. 2 - 9 мг / смг. 3 - 504 мг / смг. [4] |
Подобная зависимость интенсивности А-линии от толщины мишени проявляется и при слоеной мишени, в то время как при отражающей интенсивность растет с толщиной мишени и достигает некоторого постоянного значения при толщине порядка максимального пробега р-частиц. [5]
Точка В расположена на а-линии между точкой ее пересечения С с прямой, проходящей череа ниду жидкость - пар питания, н точкой ячрптпопа. [7]
Положение точки В на а-линии также определяется методом половинного деления. [8]
Линии скольжения при плоской деформации. [9] |
Линии первого семейства ( а-линии) соответствуют фиксированным значениям параметра Р ( Р const); вдоль Р - ЛИНИИ постоянен параметр а. Линия а отклоняется вправо от первого главного направления на 45 ( рисунок 1.38), линия Р отклоняется иле во от первого главного направления на тот же угол. [10]
Линии скольжения при плоской деформации. [11] |
Линии первого семейства ( а-линии) соответствуют фиксированным значениям параметра Р ( Р - const); вдоль Р - линии постоянен параметр а. Линия а отклоняется вправо от первого главного направления на 45 ( рисунок 1.38), линия р отклоняется иле во от первого главного направления на тот же угол. [12]
Примем [37], что а-линия скольжения, разделяющая пластическую и жесткую области, - прямая О А ( фиг. [13]
На спектрограммах а-излучения каждой моноэнергетической а-линии соответствует один пик гауссовой формы с полушириной, зависящей в основном от разрешающей способности спектрометра и толщины источника. При измерении немоноэнер-гетических источников на а-спектрограммах регистрируется серия пиков, положение которых определяется энергией а-частии. Вследствие 100 % - ной эффективности регистрации а-частиц, попадающих в детектор, площадь пиков при одинаковых условиях измерения пропорциональна только интенсивности излучения данной а-линии и не зависит от ее энергии. [14]
Если точка питания лежит на а-линии, ограничивающей область обратимой ректификации, то одним из продуктов является чистый компонент. [15]