Интенсивность - прошедшее излучение - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 2

Интенсивность - прошедшее излучение

Cтраница 2

Помещают и закрепляют исследуемые образцы в держателе, устанавливают его на плато приставки в соответствии с оптической схемой и, изменяя положение направляющих зеркал, настраивают приставку на максимальное значение интенсивности прошедшего излучения в области, где для данного образца отсутствуют полосы поглощения. [16]

Схема радиографического контроля. [17]

Интенсивность излучения, прошедшего сквозь контролируемое изделие, меняется в зависимости от плотности материала и толщины. По результатам измерения интенсивности прошедшего излучения за объектом определяют наличие в нем дефектов. [18]

Положение края поглощения также характеристично для каждого элемента. Поэтому двух измерений интенсивности прошедшего излучения при длинах волн, ограничивающих край поглощения, оказывается достаточно для идентификации элемента в РАА. [19]

Количественный РАА проводят также методом внешнего стандарта. При этом используют пропорциональность разности интенсивностей прошедшего излучения при длинах волн, ограничивающих край поглощения, содержанию соответствующего элемента в анализируемом образце. [20]

Предельная толщина может быть, конечно, определена для неоднородного р-излучения таким же способом, как и для однородного. Но здесь такие измерения затруднены тем, что интенсивность прошедшего излучения с ростом толщины поглотителя в конце спадает очень полого. Как уже было сказано, здесь вначале происходит приблизительно экспоненциальное падение, изображаемое в логарифмическом масштабе прямой линией. При таком изображении получаются обычно хорошо воспроизводимые значения предельной толщины или максимальной длины пробега. [21]

Более широко применяются толщиномеры, предназначенные для измерения толщины в направлении просвечивания. Они строятся 1, 2 ] на принципе измерения интенсивности прошедшего излучения. [22]

Зависимость коэффициента пропускания электрооптического модулятора Фабри - Перо от приложенного напряжения. Модулятор смещен в рабочую точку, расположенную на полувысоте максимума пропускания. Небольшое приложенное синусоидальное напряжение приводит к модуляции иитеисивности на выходе относительно точки смещения. [23]

Если падающий световой пучок является монохроматическим, то интенсивность прошедшего пучка зависит от величины ф, которая, как следует из (8.2.6), является электрически перестраиваемой. Кроме того, если резонатор Фабри - Перо смещен таким образом, что коэффициент его пропускания в отсутствие модулирующего напряжения равен 50 %, то интенсивность прошедшего излучения будет сильно модулироваться относительно малыми модулирующими напряжениями. Это иллюстрируется на рис. 8.6. Большая глубина модуляции обусловлена резким пиком пропускания, разумеется, при условии, что резанатор имеет высокую добротность. [24]

Применение этих методов основано на вращении плоскости поляризации излучения, прошедшего через анизотропную среду, в исследуемом участке среды. При этом интенсивность прошедшего или отраженного излучения ( ультразвукового или электромагнитного) зависит от угла между направлением преобладающей ориентации и направлением поляризации волны в поляризаторе и анализаторе. Интенсивность прошедшего излучения через изотропную среду или в воздухе при скрещенных поляризаторе и анализаторе равно 0 или зависит от степени и вида поляризации используемого излучения и состояния среды. [25]

Следует отметить также, что после прохождения слоя материала спектральный состав немоноэнергетического излучения изменяется, так как кванты различной энергии поглощаются по-разному. Обычно фотоны низких энергий затухают быстрее, поэтому эффективный линейный коэффициент ослабления увеличивается, а прошедшее излучение становится по спектральному составу более жестким, это используется в целях фильтрации. При анализе интенсивности прошедшего излучения или мощности экспозиционной дозы в широком пучке следует учитывать, что часть квантов, рассеянных вторично, также попадает на индикатор или первичный измерительный преобразователь и увеличивает мощность экспозиционной дозы. [27]

Схема радиометрического контроля. [28]

Схема измерения толщины основана на ослаблении или отражении ( обратном рассеянии) ионизирующих излучений. Прошедшее через измеряемый материал излучение содержит информацию о толщине и регистрируется детектором излучения. Электрический сигнал, пропорциональный интенсивности прошедшего излучения, с детектора через усилитель поступает на измерительный прибор, шкала которого градуирована в единицах толщины измеряемого материала. [29]

Страницы: 1 2 3