Cтраница 2
Мы видим, что выражение для интенсивности импульса излучения Р2 содержит множитель у-2; таким образом, для ультрарелятивистских частиц влияние этого импульса мало. Качественно полученные спектральные распределения изображены на фиг. Поэтому спектр излучения содержит все частоты вплоть до максимальной сомакс, которая имеет величину порядка 1 / Af. Поэтому его спектр состоит из узкой области частот с центром вблизи yvlb. При исследовании соударений следует просуммировать спектральные распределения (15.52) по различным возможным значениям прицельных параметров. В результате получим величину энергии эквивалентного поля излучения, приходящегося на единичный интервал частоты. [16]
На рис. 3.9 результаты расчета уширения распределения интенсивности импульса во времени t - ta для заданных условий представлены графически. Видно, что это уширение составляет величину порядка 1 пс. [17]
![]() |
Схема ультразвуковой дефектоскопии. [18] |
В зоне дефекта индикатор фиксирует резкое снижение интенсивности импульсов ( как бы их тень), так как в этом месте большая часть колебаний не проходит через деталь, а отражается от дефекта. [19]
В отличие от кристаллического кварца, переход интенсивности импульса нагрузки через динамический предел упругости не вызывает потери объемной прочности стекла. Это означает, что неупругая деформация стекла при сжатии происходит по пластическому механизму и не сопряжена с дроблением этого хрупкого материала. [20]
Степень этого влияния зависит от свойств пластовой системы и интенсивности импульса лебита. [21]
![]() |
КВД скважин, эксплуатирующих участки пласта различного строения. [22] |
Степень этого влияния зависит от свойств пластовой системы и интенсивности импульса дебита. [23]
Импульсные потоки случайных воздействий могут быть полностью описаны распределением интенсивности импульсов и распределением интервалов времени между ними. Получение эмпирических рядов для этих распределений обычно не встречает больших трудностей, а подбор для них соответствующего теоретического закона распределения сводится к применению обычных методов математической статистики. [24]
В случае короткого импульса ( ia i) условие насыщения не определяется интенсивностью импульса. Является ли импульс насыщающим или нет, зависит от величины энергии W, переносимой импульсом излучения через единицу поверхности за время его длительности. [25]
Если опорный пик занимает несколько каналов спектрометра, то для обнаружения смещения пика по шкале необходимо следить за интенсивностью импульсов в двух каналах равной интенсивности, находящихся на склонах пика. Смещение пика приводит к нарушению равенства этих интенсивностей. [26]
Наличие дополнительного слагаемого в ( 1) приводит, как отмечалось в § 2.2, к зависимости групповой скорости от интенсивности распространяющегося импульса. [27]
В опытах спад амплитуды спинового эха может быть обусловлен не только диффузионным перемещением молекул, но и неизбежным различием в интенсивности последовательных градиентных импульсов. [28]
Выходное напряжение блока, сравнивающего фактическую и заданую величину мощности, поступает на зажимы диагонали фазового моста устройства для отработки, интенсивности импульсов прибавить и убавить. Эта интенсивность, как было указано ранее, зависит от величины фактической и заданной мощности. [29]
Формула ( 11) выражает теорему Ван Циттерта - Цернике для шумового импульса: корреляционная функция импульса в диспергирующей среде связана фурье-преобразованием с начальным распределением интенсивности б-коррелированного импульса. [30]