Интенсивность - источник - излучение - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
В истоке каждой ошибки, за которую вы ругаете компьютер, вы найдете, по меньшей мере, две человеческие ошибки, включая саму ругань. Законы Мерфи (еще...)

Интенсивность - источник - излучение

Cтраница 1


Интенсивность источника излучения сильно меняется в зависимости от длины волны ( см. рис. 11.20), и это затрудняет работу спектрофотометров. Для нормальной работы приемно-усилитель-ного устройства необходимо, чтобы энергия, подаваемая на болометр, была почти постоянной. Это осуществляется за счет раскрытия входной и выходной щели по такому закону, Который позволил бы иметь на выходе примерно постоянную энергию излучения. Одновременное раскрытие входной и выходной щели производится фигурным кулачком 25, который поворачивается вместе с разворотом зеркала Литтрова от мотора длин волн.  [1]

2 Кривая фотометрического тит. [2]

Интенсивность источника излучения и сигнал детектора должны быть практически постоянными на протяжении всего процесса титрования. При титровании обычно используют цилиндрические держатели; нужно опасаться смещения сосуда для титрования во избежание изменения толщины слоя.  [3]

Если интенсивность источников излучения в системе увеличивается во сколько-нибудь раз, то соответствующие ему лучистые потоки также увеличиваются во столько же раз. Это положение является следствием принципа аддитивности.  [4]

Если интенсивность источника излучения слишком высока, то в осветительную систему необходимо ввести светофильтр. Это отмечают после цифровых данных, характеризующих ступенчатый фильтр.  [5]

Если интенсивность источников излучения в системе увеличивается во сколько-нибудь раз, то соответствующие ему лучистые потоки также увеличиваются во столько же раз. Это положение является следствием принципа аддитивности.  [6]

7 Скорость нарастания температуры по толщине полиэтилена ( 45 45 мкм при ИК-сварке ( излучатель - силитовый стержень 8 / 150 - 85, нагретый до 1050 С. подложка - микропористая резина. расстояние между излучателем и материалом 16 мм. [7]

Однако каждой интенсивности источника излучения соответствует определенная толщина данного термопласта, при которой излучения на подложку попадает так мало, что влияние последней на нагрев материала исключается.  [8]

9 Схема установки для фотонейтронного анализа бериллия. [9]

Геометрические условия измерения, интенсивность источника излучения и толщина образца должны быть идентичными.  [10]

11 Принципиальная схема ионизационного газоанализатора с дифференциальной камерой. [11]

Этот ток зависит от интенсивности источника излучения, скорости рекомбинации ионов, напряжения на электродах и, наконец, от эффективного сечения ионизации газов. Если предположить, что интенсивность излучения источника, скорость рекомбинации ионов и напряжение на электродах остаются постоянными, то ионизационный ток является функцией только эффективного сечения ионизации.  [12]

13 Схема газоанализатора с on - тической компенсацией.| Схема однолучевого оптико-акустического газоанализатора. [13]

В связи с этим изменение интенсивности источника излучения и пропускания кюветы одинаково отражается на поглощении светового потока в обеих камерах и практически не сказывается на положении нулевой точки прибора.  [14]

Конечно, при существующих и используемых интенсивностях источников излучения и сравнительно небольших временах жизни возбужденных заготовок мономера у дефекта их средняя стационарная концентрация в объеме всего кристалла будет невелика.  [15]



Страницы:      1    2    3    4