Cтраница 2
Если наблюдать спектр от электрического разряда, воздействующего на изделие, имеющее металлическое покрытие, то время, протекающее от включения разряда до появления спектральных линий основы изделия, зависит от толщины покрытия. Между испытуемым изделием, толщина покрытия которого должна быть измерена, и постоянным стержневым электродом, заточенным на острие и имеющим состав, отличный от состава изделия, создается разряд низковольтной искры или дуги с малым током. Одновременно с включением разряда начинается отсчет времени по секундомеру, и в окуляр стплоскопа ведется наблюдение за спектральной линией, принадлежащей материалу основы. Появление ее указывает на разрушение разрядом некоторого участка покрытия. Когда интенсивность выбранной линии спектра основы становится равной интенсивности другой выбранной линии, принадлежащей спектру материала покрытия или постоянного электрода, отсчет времени заканчивается. Найденное таким образом время служит мерой толщины покрытия. [16]
Научное значение спектрометрического метода состоит в том, что благодаря новым принципам более точного измерения стал доступен ряд новых областей исследования. Измеряя мгновенные интенсивности излучения или мгновенные значения отношения интенсивностей пары ли ний, можно получать дополнительную информацию о явлениях, происходящих в источнике света. Например, по изменениям абсолютных и относительных интенсивностей можно успешно изучать явления обыскривания. Эти возможности имеют большое значение ДЛ5 физических и чисто аналитических исследований. Возможность интегрировать интенсивности выбранных линий в течение времени, 3i которое интегральная интенсивность заранее определенной линш или спектрально неразложенного света аналитического ИСТОЧНИКЕ излучения достигает заданной величины, открывает новые области для важных исследований аналитического характера. [17]