Интенсивность - аналитическая линия - элемент
Cтраница 1
Интенсивность аналитических линий элементов, вводимых с аэрозолем в источник света, остается практически постоянной длительное время. Это свидетельствует о сохранении постоянной концентрации атомов определяемых элементов и постоянной температуры источников света, хотя равновесное состояние устанавливается в плазме через 40 - 60 сек после начала распыления раствора. [2]
 |
Влияние напряжения на ванне на интенсивность аналитических линий элементов для фосфорной кислоты ( а и гипо-фосфита натрия ( б. [3] |
Приведенные на рис. 2 зависимости интенсивности аналитических линий элементов от концентрации соли также имеют экстремальный характер. При этом максимумы для рассматриваемых веществ имеют место при различных концентрациях соли в растворе. [4]
 |
Влияние концентрации соли на интенсивность аналитических линий элементов для фосфорной кислоты ( а и для гипофосфита натрия ( б.| Влияние времени электролиза на. [5] |
Представленные на рис. 3 зависимости интенсивности аналитических линий элементов от времени проведения электролиза при отсутствии термостатирования ячейки имеют вид кривых с насыщением. Для различных объектов, а также определяемых элементов насыщение наступает в различные моменты времени: если для таких хорошо выделяющихся элементов, как Pb, Bi и In, оно наступает через - I час, то для элементов типа Fe, Ni и Со - уже через 15 - 20 минут. Дальнейшее увеличение времени не приводит к изменению степени выделения микропримесей. [6]
Величина па или Пг, входящая в выражения ( 44), ( 46), характеризует концентрацию в плазме только нейтральных атомов или ионов. Нас же интересует связь интенсивности аналитической линии элемента с суммарной концентрацией п всех сортов частиц определяемого элемента в плазме - атомов па, ионов п, и молекул пт. В дуговой плазме атомы многих элементов в заметной степени ионизованы, причем ионизация тем вероятнее, чем больше температура плазмы. Но вероятность образования ионов с двумя и более зарядами, как правило, мала. [7]
Величина па или пг -, входящая в выражения ( 44), ( 46), характеризует концентрацию в плазме только нейтральных атомов или ионов. Нас же интересует связь интенсивности аналитической линии элемента с суммарной концентрацией п всех сортов частиц определяемого элемента в плазме - атомов па, ионов п и молекул пт. В дуговой плазме атомы многих элементов в заметной степени ионизованы, причем ионизация тем вероятнее, чем больше температура плазмы. Но вероятность образования ионов с двумя и более зарядами, как правило, мала. [8]
Определение Pt, Sn, Fe, Cd, Pb и Си основано на их предварительном электролитическом концентрировании одновременно со ртутью при постоянном потенциале в инертной атмосфере на торце графитового электрода с образованием соответствующих амальгам. Этот электрод непосредственно используют для атомно-эмиссионного анализа с измерением интенсивности аналитических линий элементов в спектрах, полученных по методу тонкого слоя вещества. Электролитическое концентрирование позволяет снизить пределы обнаружения элементов атомно-эмиссионным методом в природных и сточных водах до уровня ПДК. [9]
Вследствие сильного разбавления анализируемого вещества в источнике света потоком распыляющего газа полностью устраняется самопоглощение линий определяемых элементов. При осуществлении метода вдувания аэрозоля в искровой разряд через канал в нижнем электроде полностью отсутствует фракционирование. Интенсивность аналитических линий элементов, вводимых с аэрозолем в источник света, остается практически постоянной длительное время. Это свидетельствует о сохранении постоянной концентрации атомов определяемых элементов и постоянной температуры источников света, хотя равновесное состояние устанавливается в плазме 40 - 60 сек. [10]
Следовательно, для того чтобы с достаточной степенью точности оценить интенсивность спектральных линий в пробах и в соответствующих эталонах, необходимо, чтобы общий химический ( петрографо-минералогический) состав эталонов был как можно ближе к общему химическому составу изучаемых, образцов, а исследуемые элементы должны входить в эталоны в виде тех же соединений, в каких они находятся в пробах. Кроме того, условия сжигания проб и эталонов должны быть одинаковыми. Только в таком случае интенсивности аналитических линий элементов ( в пробах и эталонах) могут быть сопоставимы. Лучшими эталонами являются растертые в порошок породы, руды и минералы из того же месторождения, что и поступающие на спектральный анализ пробы. Определение концентраций изучаемых элементов в эталонах из природных образований необходимо проводить надежными и различными химико-аналитическими методами. Однако приготовление таких эталонов обычно встречает большие трудности, так как точное определение химическими методами многих элементов ( Li, Sr, Nb, Та, Zr, Hf и др.) является сложной и трудоемкой задачей для обычных химико-аналитических лабораторий. Поэтому в практике спектрального анализа широко применяется изготовление эталонов из химических реактивов путем расчетов. [11]
Эта зависимость не может быть установлена теоретически в общем виде, поскольку она является результатом действия слишком большого числа факторов, точный учет которых практически невозможен. Поэтому количественный анализ может быть выполнен только при наличии так называемых эталонов - обычно образцов того же ( или максимально близкого) состава и свойств, что и анализируемые образцы, но содержащих разные известные количества ( или известные добавки) определяемого элемента. Эталоны позволяют установить интересующую аналитика зависимость между содержанием элемента в пробе и регистрируемой интенсивностью его аналитической линии. Эта зависимость представляется в виде градуировочного графика, пользуясь которым можно по интенсивности аналитической линии элемента в анализируемой пробе найти его содержание. [12]
Более сложный способ учета матричного эффекта требуется в том случае, когда неизвестно непосредственное влияние мешающих элементов на интенсивность аналитических линий или вообще не определена концентрация мешающих элементов, или, наконец, неизвестны элементы, ответственные за матричный эффект. Следовательно, возможность введения поправки зависит от двух условий. При этих условиях взаимное влияние элементов проявляется исключительно в плазме. Далее, должны быть известны значения параметров плазмы и количественная зависимость от них интенсивностей аналитических линий. Наиболее важными такими параметрами являются температура и электронное давление. Так, знание соответствующих соотношений и физических постоянных позволяет построить зависимость изменений интенсивности данных аналитических линий от температуры и электронного давления в плазме. Следовательно, если вследствие взаимного влияния элементов меняется температура и электронное давление в плазме, то можно рассчитать изменение отношения интенсивностей аналитических линий элементов, присутствующих в плазме в постоянных концентрациях. [13]
Страницы: 1