Интенсивность - рассеянные лучей
Cтраница 1
Интенсивность рассеянных лучей сильно зависит также от множителя повторяемости р, - который представляет собой число, показывающее, сколько семейств плоскостей кристалла с данным межплоскостным расстоянием принимало участие в создании данного отражения. [1]
Интенсивность рассеянных лучей уменьшается с увеличением угла р между падающим и рассеянным лучами. [2]
Логарифм интенсивности рассеянных лучей под малыми углами линейно убывает с увеличением квадрата радиуса частиц, квадрата значения угла и с уменьшением квадрата длины волны. [3]
Отсюда же вытекает, что интенсивность рассеянных лучей зависит от размеров частиц. Наконец, интенсивность рассеянного лучистого потока резко возрастает с уменьшением длины волны падающих лучей. [4]
Дарвин работал вместе с Мозли в Манчестере у Резерфорда, изучая интенсивности рассеянных лучей. Проверяя соответствие экспериментальной интенсивности той величине, которая была определена им теоретически, он установил, что первая примерно в 10 раз сильнее. [5]
Вскоре после первых структурных исследований кристаллов с помощью рентгеновских лучей было установлено, что интенсивности рассеянных лучей не отвечают значениям, ожидаемым, согласно теории, для идеально упорядоченного кристалла даже в тех случаях, когда использовался кристаллический материал, казалось бы, практически не содержащий как макро -, так и микродефектов. [6]
 |
Цилиндрическая камера для съемки рентгенограмм поликристаллов.| Камера для обратной съемки рент генограмм на плоскую пленку ( КРОС. [7] |
Установка для структурного анализа УРС-50И ( см. рис. 18) отличается ионизационной регистрац ией интенсивности рассеянных лучей. [8]
 |
Цилиндрическая камера для съемки рентгенограмм поликристаллов.| Камера Ленинградского инструментального завода для съемки на плоскую пленку с дисковой кассетой. [9] |
В последнее время нашей промышленностью создана установка для структурного анализа УРС-50-И с ионизационной регистрацией интенсивности рассеянных лучей. Установка дает непосредственно угловую зависимость интенсивности рассеянного излучения ( фотометрическую кривую), обладает повышенной чувствительностью и резко сокращает длительность анализа. [10]
Таким образом, исследование спектров поглощения рассеивающих сред сводится к измерению интенсивностей падающего луча света / 0 и интенсивности рассеянных лучей Jj. Получаемые таким методом спектры веществ называются спектрами диффузного отражения. [11]
 |
Атомные и межмолекулярные радиусы элементов. [12] |
Если перечисленные сведения получены, то данные, которые может дать измерение расстояний между пятнами рентгенограммы, исчерпаны. Остается измерить интенсивности рассеянных лучей и произвести довольно громоздкие вычисления, при помощи которых с точностью до 0 01 А ( 1А 10 - 8 см) могут быть определены все межатомные расстояния ( как внутри молекулы, так и между атомами разных молекул), а также е точностью до 0 5 - величины валентных углов. [13]
 |
Атомные и межмолекулярные радиусы элементов. [14] |
Если перечисленные сведения получены, то данные, которые может дать измерение расстояний между пятнами рентгенограммы, исчерпаны. Остается измерить интенсивности рассеянных лучей и произвести довольно громоздкие вычисления, при помощи которых с точностью до 0 01 А ( 1А 10 - 8 см) могут быть определены все межатомные расстояния ( как внутри молекулы, так и между атомами разных молекул), а также с точностью до 0 5 - величины валентных углов. [15]
Страницы: 1 2