Cтраница 1
Интенсивность рентгеновских лучей, пропущенных через вещество, подлежащее исследованию, может быть изучена в разных точках последовательно одним из нескольких способов. [1]
Интенсивность рентгеновских лучей в значительной степени зависит от напряжения, питающего рентгеновскую установку, что вызывает повышенные требования к стабилизаторам напряжения. [2]
Измерить интенсивность рентгеновских лучей можно с помощью флуоресцирующего экрана и фотоэлемента; интенсивность р - лучей - с помощью счетчика Гейгера-Мюллера. [3]
Измерение интенсивности рентгеновских лучей основано на ионизации вещества, вызываемой этими лучами. Степень ионизации измеряется величиной ионизационного ( несамостоятельного) тока. [4]
При сравнении интенсивности рентгеновских лучей, рассеянных смешанными кристаллами типа 1 и кристаллами чистых компонентов, можно заключить, что для каждой смеси типа 1 наблюдается случайное распределение молекул в кристалле. [5]
Специальная схема регулирует интенсивность рентгеновских лучей для каждой толщины и вида материала. [6]
Как отмечалось, интенсивность рентгеновских лучей ( сила анодного тока) уменьшается по мере прохождения через просвечиваемый металл. [7]
Вопрос об ослаблении интенсивности рентгеновских лучей при прохождении их через вещество, не являясь основным в рентгенострук-турном анализе, имеет тем не менее существенное значение при разрешении некоторых определенных задач. Поглощение рентгеновских лучей необходимо учитывать при расчете интенсивности дифрагированных кристаллом лучей; оно играет определенную роль при выборе излучения; селективное поглощение используется при фильтрации лучей. Тем не менее подробное рассмотрение всех процессов взаимодействия рентгеновских лучей с веществом с позиций современной волновой механики в рамках настоящего курса не представляется необходимым. С другой стороны, ограничиваясь кратким перечислением процессов, приходится мириться с некоторыми существенными неточностями, неизбежными при упрощенном описании явлений. [8]
Во сколькЪ раз уменьшится интенсивность рентгеновских лучей с длиной волны Х20 пм при прохождении слоя железа толщиной d0 15 мм. [9]
При прохождении через металлы интенсивность рентгеновских лучей ослабевает в связи с поглощением металлом части лучей и в связи с некоторым их рассеянием. На различии коэ-зр фициентов поглощения рентгеновских лучей различными телами ( металлом и дефектом; основой: плава и ликвирующей структурной со -: тавляющей) основано применение рент - - еповского просвечивания или рентгеновской дефектоскопии. [10]
Во сколько раз уменьшится интенсивность рентгеновских лучей с длиной волны А 20 пм при прохождении слоя железа толщиной d - 0 15 мм. [11]
Во сколько раз уменьшится интенсивность рентгеновских лучей с длиной волны 0 2 А при прохождении слоя железа толщиной 0 15 лш. Массовый коэффициент поглощения железа для этой длины волны равен 1 1 м2 ] кг. [12]
Во сколько раз уменьшится интенсивность рентгеновских лучей с длиной волны 0 2 А при прохождении слоя железа толщиной 0 15 лш. [13]
При прохождении сквозь вещество интенсивность рентгеновских лучей уменьшается в результате их рассеяния и истинного поглощения. При этом часть энергии жестких рентгеновских лучей передается электронам вещества, а сами лучи, испытавшие рассеяние, становятся более мягкими, приобретают большую длину волны. Истинное поглощение сопровождается переходом энергии рентгеновских квантов во внутреннюю энергию вещества. [14]
Помимо этих случайных ошибок интенсивности рентгеновских лучей включают также систематические ошибки, обусловленные такими факторами, как, например, поглощение дифрагированного пучка при прохождении через кристалл. Некоторые из таких систематических ошибок можно исключить тщательным подбором кристалла или введением поправок в последующие вычисления, тем не менее часто невозможно выбрать идеальный кристалл, а необходимые поправки не редко опускают или вводят недостаточно строго. Поэтому в наблюдаемые интенсивности всегда вкрадываются дополнительные неточности, вызванные этими систематическими ошибками. Такое положение нельзя считать удовлетворительным и исправить его, конечно, нужно, но пока нам остается только примириться с этими ограничениями и понять, что рентгеновская дифракция дает менее точные значения молекулярных параметров, чем большинство других экспериментальных методов. [15]