Cтраница 1
Интенсивности максимумов меняются в зависимости от излучения, на котором снимается рентгенограмма в связи с изменением углового множителя интенсивности, особенно при средних значениях О, что может оказать влияние на слабые и средние линии. [1]
Интенсивность максимумов в направлениях между осями X и У совсем мала, так как она определится произведением двух малых величин. [2]
![]() |
Сечение дифракционной решетки ( а и ее схематическое. [3] |
Интенсивности максимумов, возникающих при дифракции на щели столь незначительны, что не могут быть использованы для решения практических задач. В качестве спектрального прибора используется оптическое устройство - дифракционная решетка, которая представляет собой систему параллельных равноотстоящих щелей. Дифракционную решетку можно получить нанесением непрозрачных царапин ( через которые свет не проходит) на стеклянную пластину рис. 26.4. Непроцарапанные места ( щели) будут пропускать свет. [4]
![]() |
Спектры поглощения облученных стекол. [5] |
Интенсивность максимума люминесценции при 525 ммк относительно максимума при 418 ммк возрастала с увеличением в стеклах концентрации серебра при постоянном содержании СеО2, что обусловлено усилением люминесценции атомарных центров по сравнению со свечением, вызываемым неизменным содержанием церия. [6]
![]() |
Температурные зависимости модуля запаса Е ( а и тангенса угла механических потерь tg в ( 6 для вытянутых и изотропного образцов ПОМ марки D 500. [7] |
Интенсивность максимума у-релаксационного процесса ( по tg 6) изменяется очень мало вплоть до степеней вытяжки, превышающих А. X 19 5) наблюдается заметное уменьшение его интенсивности. Предельные значения модулей упругости ПОМ, как и ПП, ниже, чем у ЛПЭ, но прекрасная термическая стабильность открывает возможности для использования ПОМ в некоторых специальных конструкциях. [8]
Анализ измерения интенсивности максимумов для тонких пленок воды между пластинками слюды показал, что по мере утонынения этой пленки изменяется интенсивность фона, и максимумы становятся более резкими. [9]
Межатомные расстояния и интенсивность максимумов отличаются от данных для графита и более близки к данным для смесей. [10]
Было обнаружено, что интенсивность максимума А существенным образом зависит от числа пентафторфенильных групп при фосфоре. [12]
Из того факта, что интенсивность максимумов по мере роста угла рассеяния ft быстро спадает и кривая рассеяния сливается с пунктирной кривой, рассчитанной при допущении независимого, хаотического движения атомов аргона, естественно сделать вывод, что по мере увеличения дистанции между атомами постепенно все межатомные расстояния становятся одинаково вероятными. Это означает, что в жидком аргоне должна наблюдаться определенная степень упорядоченности в расположении тех атомов, которые примыкают друг к другу. По мере увеличения расстояния между атомами их взаимное расположение должно становиться все более и более беспорядочным. [13]
Из того факта, что интенсивность максимумов по мере роста угла рассеяния 0 быстро спадает и кривая рассеяния сливается с пунктирной кривой, рассчитанной при допущении независимого, хаотического движения атомов аргона, естественно сделать вывод, что по мере увеличения дистанции между атомами постепенно все межатомные расстояния становятся одинаково вероятными. Это означает, что в жидком аргоне должна наблюдаться определенная степень упорядоченности в расположении тех атомов, которые примыкают друг к другу. По мере увеличения расстояния между атомами их взаимное расположение должно становиться все более и более беспорядочным. [14]
При спектральном анализе обычно измеряют интенсивность максимумов спектральных линий, которые довольно быстро достигают насыщения. Если измерять интенсивность всей линии, то насыщение при больших концентрациях происходит медленнее, так как ширина линии продолжает расти. [15]