Интенсивность - первое
Cтраница 1
 |
Значения г, и W, для серы. [1] |
Интенсивность первого сповы-шением температуры возрастает. Сравнение кривых интенсивности в методах Р и Н показывает, что согласие очень хорошее, только на нейтроно-грамме интенсивность максимумов несколько меньше, возможно, из-за малого значения ( sin0) / А. Главный пик КРР дискретен, но сразу за ним имеется отрицательный участок атомной плотности. [2]
 |
Схема устройства для измерения фазы. [3] |
После травления измеряются интенсивности первого и второго порядков дифракции прошедшего света по всей зоне записи. [4]
 |
Температурная зависимость 1 - логарифма максимальной скорости. 2 - величины. [5] |
На рис. 134 дана зависимость интенсивности первого ( кривая 1) и второго ( кривая 2) максимумов хемилюминес-ценции от суммарного давления. Обе кривые сначала растут с ростом давления, при давлениях выше 170 мм рт. ст. наблюдается падение интенсивности свечения, связанное, по-видимому, с тушением хемилюминесценции. [6]
 |
Расчетные зависимости интенсивностей первого и второго порядков дифракции при травлении от угла раскрытия 9 для дорожек шириной 500 нм ( а и 600 нм ( б. толщина фоторезиста I30 нм. [7] |
На рис. 3.11 изображены зависимости интенсивностей первого и второго порядков дифракции прошедшего света / 1 и / для двух случаев поляризации от угла наклона стенок 0 для двух значений W. Отмечены также и величины, рассчитанные по скалярной теории. Как и ожидалось, поляризационные эффекты выражены слабо, особенно для первого порядка. Следует отметить, что в этом случае результаты скалярной и векторной теорий достаточно хорошо совпадают. [8]
Ху, x / ft - интенсивности первого и второго порядков m - мер-ного марковского процесса. [9]
Если сопоставить одну с другой кривые интенсивности для гидрогелей и ксерогеля, то можно заметить закономерное изменение этих кривых в зависимости от степени обезвоживания i Если на кривой с 75 0 % максимум при S 0 5 А 1 имеет интенсивность, то на кривой геля с 35 5 % Н2О интенсивности первого и второго максимумов почти равны, а у ксерогеля высота первого максимума значительно превосходит высоту второго. Эти данные указывают на существенные изменения структуры образца по мере удаления воды из него. [10]
Мерой интенсивности первого служит величина зокт, а второго - величина токт. Таким образом, октаэдрические напряжения характеризуют как бы состав напряженного состояния: долю всестороннего сжатия ( растяжения) и долю, приходящуюся на всесторонний сдвиг. [11]
Аномалия в коэффициенте усиления иллюстрируется на фиг. Кривая зависимости интенсивности первого стоксова поля от входной мощности имеет резкий порог. Наклон кривой в области порога соответствует аномально большому коэффициенту усиления, который не может быть объяснен теорией ВКР. В настоящее время известно, что это вызвано самофокусировкой. Самофокусировка возникает вследствие возрастания показателя преломления, вызванного световым полем. Рассмотрим пучок с конечным поперечным сечением. Центральная часть пучка, более интенсивная, распространяется в среде с большим показателем преломления и поэтому замедляется по сравнению с краями. Соответственно искажается волновой фронт. [12]
 |
Рентгенограмма наноструктурной Си, полученной РКУ-прессованием и подвергнутой холодной прокатке со степенью обжатия 83 %. [13] |
В частности, набор основных рентгеновских пиков, характерных для данных рентгенограмм, существенно различен. На рентгенограмме наноструктурной Си, полученной РКУ-прессованием, заметной интенсивностью обладают рентгеновские пики ( 111), ( 200), ( 220), ( 311) и ( 331), а интенсивность первого и последнего максимальны. [14]
При бомбардировке электронами в образце возбуждается характеристическое излучение ряда элементов. Возможно, что наряду с анализируемым элементом А возбуждается более жесткое излучение элемента В. Тогда за счет вторичного возбуждения излучения элемента Л излучением элемента В интенсивность первого возрастает. [15]
Страницы: 1 2