Интенсивность - интерференционная полоса - Большая Энциклопедия Нефти и Газа, статья, страница 1
Лучшее средство от тараканов - плотный поток быстрых нейтронов... Законы Мерфи (еще...)

Интенсивность - интерференционная полоса

Cтраница 1


Интенсивность интерференционных полос зависит от абсолютной величины смещения элементов поверхности объекта, а также от направления их смещения по отношению к источнику лазерного освещения и к объективу съемочного устройства. В наиболее неблагоприятном случае перемещение во время экспонирования на половину длины волны света приводит к сдвигу по фазе на угол 2л, что соответствует периоду интерференционных полос на изображении.  [1]

Поскольку интенсивность интерференционных полос в плоскости Р2 изменяется по закону ( 1 - cos x) / 2, экспозиция в этой плоскости изменяется от 0 до своего максимального значения в синусоидальной волне и вся модуляция должна определяться входным светом.  [2]

Понятно, что интерферировать могут лишь световые волны одинаковой длины. Следовательно, интенсивность интерференционной полосы определяется не интегральной мощностью излучения, а мощностью излучения света данной, волны.  [3]

Понятно, что интерферировать могут лишь световые волны одинаковой длины. Следовательно, интенсивность интерференционной полосы определяется не интегральной мощностью излучения, а мощностью излучения света данной волны.  [4]

А - разность хода, введенная в ход лучей плоскопараллельным слоем толщиной /, имеющим неизвестный показатель преломления. Если А К, то разность хода может быть определена непосредственно по изменению интенсивности интерференционной полосы. Как уже указывалось в § 19, при фотоэлектрической регистрации картины достигают чувствительности измерений до 0 001А, и менее. Если разность хода, вносимая объектом, превышает одну длину волны К, то эта разность определяется с точностью до целого числа длин волн, так как в монохроматическом свете экстремумы не отличаются друг от друга. Поэтому рассчитать показатель преломления, пользуясь соотношением (21.1), без дополнительных данных не представляется возможным.  [5]

Методика измерений заключается в следующем. Сдвиг А6, обусловленный наличием плазмы, замеряется по смещению одной из пластин интерферометра. Смещение пластины необходимо для выведения максимума интенсивности интерференционной полосы на приемник излучения СВЧ. При регистрации интенсивности с точностью 10 % перемещение пластины при Д6 0 67 - 10-а рад составляет величину ДЛ 0 0085 мм.  [6]

Цри этом волна, несущая информацию о предмете, интерферирует с другой волной, называемой референтной. Возникшее в результате стационарное интерферентное поле несет в себе информацию о предмете, которая заключена в пространственном распределении интенсивности интерференционных полос. Это интерференционное поле можно легко записать путем экспонирования регистрирующей среды, обладающей большой разрешающей способностью.  [7]

Сканирующий приемник ( микрофон, пьезоэлемент) перемещается в плоскости звукового изображения и измеряет дифрагированную звуковую волну. Информация об опорной волне передается в виде электрических сигналов в приемник. При этом отдельный опорный луч не нужен. Голограмма состоит в этом случае из электрического сигнала, характеризующего интенсивность интерференционных полос акустического распределения в зависимости от конкретного положения. Воспроизведение сигнала осуществляется только с помощью электронных устройств.  [8]

9 В. Многолучевой микроинтерферометр МИИ-11. [9]

Этот метод заключается в обработке по методу Сабаттье негатива интерференционной картины, сфотографированной на обычном двухлучевом микроинтерферометре: проявление негатива на некоторой стадии прерывается, и он подвергается на короткое время действию мощного источника света, после чего проявление продолжается. Таким образом, на одной пластинке получают наложенные друг на друга негатив и позитив. На рис. 26, а даны интерферограммы сферической поверхности, полученные на двухлучевом и на многолучевом приборе, а на рис. 26, б представлены экви-денстентные интерферограммы, полученные также на двухлучевом и многолучевом приборах. Узкие темные полосы ( эквиденстенты) представляют собой кривые одинаковой оптической плотности, они проходят с обеих сторон максимума интенсивности интерференционных полос.  [10]

D, содержащий большую стеклянную пластинку Li ( деполяризатор), вращаемую вокруг оси Е с деленным сектором G и алидадой F. Весь прибор может поворачиваться относительно оси Н и кроме того труба А вместе с ящиком D может поворачиваться в прорезах I и J. Ориентировка указывается деленным кругом К. Если свет не поляризован или поляризован параллельно одной из осей пластинки - , то при наклоне L2 интенсивность интерференционных полос будет одинаковой в обеих половицах поля зрения.  [11]



Страницы:      1