Интенсивность - лучистый поток
Cтраница 2
 |
Зависимость направленных степеней чер.| Зависимость направленных степеней черноты некоторых металлов от угла между направлением излучения и нормалью к поверхности. [16] |
Однако при этом остается неизвестным распределение по направлениям отраженных лучистых потоков. Для выяснения того, как происходит это явление, необходимо также иметь данные по величинам коэффициентов распределения яркостей или интенсивностей отраженных лучистых потоков. [17]
 |
Спектральная характеристика иконоскопа ( вверху и ортикона с переносом изображения ( внизу. [18] |
Отношение эмиссионного тока к мощности освещающего потока характеризует чувствительность прибора для данного участка длин волн. График этого отношения как функция длины волны дает спектральную характеристику. Если фотоэмиссионный прибор является линейным, то для определения интенсивности лучистого потока в каждом спектральном участке может быть взята любая удобная величина, что не повлияет на вид результирующей кривой. [19]
Хотя распределение чувствительности по спектру является фундаментальным свойством светочувствительного материала и не может быть вообще значительно изменяемо, в отдельных случаях спектральная характеристика может быть приближена к желаемой форме. Рутковский [103, 104] описал метод изготовления селеновых фотоэлементов, позволяющий, в частности, приблизить их спектральную характеристику с кривой видности среднего человеческого глаза. Подгонка кривых спектральной чувствительности к требуемой форме может быть также осуществлена применением соответствующих абсорбционных светофильтров. Этот метод, как правило, связан с большими потерями интенсивности лучистого потока. [20]
Сульфид свинца PbS встречается в природе в виде минерала галенита. В 1941 г. из сульфида свинца было приготовлено фотосопротивление. Фотопоток, протекающий через прибор, зависит от интенсивности лучистого потока. [21]
Сульфид свлнца PbS встречается в природе в виде минерала галенита. В 1941 г. из сульфида свинца было приготовлено фотосопротивление. Фототек, протекающий через прибор, зависит от интенсивности лучистого потока. [22]
Падающий на поверхность фотоэлемента лучистый поток частично отражается от полупрозрачного металлического электрода и частично поглощается в нем. Часть потока, прошедшая через электрод, поглощается в прилегающем к нему полупроводниковом слое. В результате в этом слое возникают пары электрон - дырка. Электроны концентрируются на электроде, покрывающем полупроводниковый слой, у которого электронный механизм проводимости, а дырки - на электроде дырочного полупроводника. Между нижним и верхним электродом возникает разность потенциалов, величина которой до определенного предела будет тем больше, чем больше интенсивность лучистого потока. [23]
При фотоэлектронном эффекте, высвобождении электронов из металлов или других элементов световой поток ведет себя так, как будто он проходит отдельными порциями или квантами. Энергия единичного кванта, или фотона, соответствует hv, где h является постоянной Планка, а - частота колебания излучения. Чтобы высвободить электрон, фотон должен передать электрону достаточную энергию для того, чтобы он мог преодолеть потенциально энергетический барьер поверхности материала. Для любого материала существует минимальная частота ( называемая пороговой частотой) энергии излучения, которая обеспечивает электрону энергию, достаточную для того, чтобы он мог покинуть материал. Благодаря тепловому возбуждению некоторые электроны выбиваются и на частотах ниже пороговой. Однако, как правило, число таких электронов крайне невелико по сравнению с теми, которые выбиваются на частотах выше пороговой. Взаимосвязью между частотой и энергией объясняется тот факт, что ультрафиолетовый свет обычно вызывает больший фотоэлектронный эффект, чем видимый свет, и что видимый свет дает больший эффект, чем инфракрасный свет. Для любого данного распределения длин волн действующего потока лучистой энергии число электронов, вылетающих из фотокатода, пропорционально интенсивности лучистого потока. Фотоэлектронная эмиссия, таким образом, связана линейно с интенсивностью облучения. На практике, однако, где дают себя знать эффект пространственного заряда, вторичная эмиссия, или другие осложняющие явления, эта линейная взаимосвязь не всегда выполняется в цепи тока коллектора. [24]
Страницы: 1 2