Cтраница 1
Интенсивности почернения этих участков на фотографии измеряют при помощи микрофотометра. Интенсивности пятен дифракции знать необходимо, поскольку они зависят как от числа электронов, участвовавших в отражении, так и от распределения атомов в плоскости, которая образовала данное дифракционное пятно. При помощи сложных математических расчетов, включающих суммирование трехмерных рядов Фурье, по расположению и интенсивности пятен отражения можно рассчитать для различных частей элементарной ячейки плотность электронов, расположенных на внешних орбиталях, поскольку эти электроны ответственны за рассеяние рентгеновских лучей атомами. При обработке результатов про-изврдят тысячи расчетов, но использование ЭВМ сводит к минимуму утомительность этих расчетов. [2]
Интенсивность почернения в свою очередь пропорциональна концентрации определяемого элемента. Количественно почернение линий на фотопластинке ( плотность почернения) измеряют при помощи специальных оптических приборов микрофотометров. [3]
Интенсивность почернения большинства линий возрастает. В связи с этим время испарения пробы увеличивается на 40 - 60 сек. Еще больше снижается температура плазмы дуги. Вследствие этого, а также из-за уменьшения количества угольного порошка в пробе линия углерода значительно ослаблена. [4]
![]() |
Характеристические кривые, показывающие изменение контрастности фотографического слоя. [5] |
На интенсивность почернения в центре спектральных линий может влиять ширина входной щели спектрографа, определяющая освещенность эмульсионного слоя. При увеличении ширины щели растет и почернение спектральных линий, но только до определенного предела. [6]
По интенсивности почернения пятен возможен полуколичественный визуальный анализ. Для количественного измерения площадь потемнения на радиоавтограмме может быть измерена фотоденсито-метрически с помощью специальных приборов. [7]
![]() |
Масс-спектр препарата лютеция и европия ( оксалаты. [8] |
По интенсивности почернения различных полос фотопластинки находят относительные соотношения или распространенность различных изотопов в смешанном элементе. [9]
Изменение интенсивности почернения на электро-нограмме в зависимости от угла 0 является строго определенным и зависит от строения молекул исследуемого вещества. Расшифровка электронограммы дает возможность определить структуру молекулы. [10]
Прецизионное определение интенсивности почернения производится с помощью микрофотометра. Устройство фотоэлектрического микрофотометра основано на следующем принципе. Узкий пучок света с интенсивностью iQ пропускается сквозь пленку. В зависимости от почернения пленки в месте прохождения света пучок ослабляется в большей или меньшей степени. Прошедший сквозь пленку луч падает на фотоэлемент и вызывает в нем ток, пропорциональный интенсивности света. После усиления соответствующей ламповой схемой ток попадает на гальванометр, показание которого дает интенсивность прошедших через пленку лучей в некоторой произвольной шкале. Промер на микрофотометре марок почернения позволяет перейти к шкале интенсивностей рентгеновских лучей, вызвавших почернение пленки. [11]
При фотографическом методе интенсивность почернения фотопленки измеряют по величине экспозиции при фотосъемке спектра. [12]
Характерным является провал интенсивности почернения ( более светлый участок радиограммы) на полоске устойчивого состояния. [14]