Интенсивность - прошедший пучок
Cтраница 1
Интенсивность первого прошедшего пучка сначала падает быстрее, чем увеличивается интенсивность отраженного пучка. [2]
Интенсивность рефлексов на МДК сравнима с интенсивностью прямо прошедшего пучка, поэтому в результате взаимодействия последнего с дифрагированными пучками по мере прохождения их сквозь кристалл ( многократного рассеяния) происходит усреднение интенсивностей рефлексов. Вследствие этого затрудняется определение структурного фактора по относительным интенсивностям отражений с использованием обычных формул кинематической теории. [3]
Если падающий световой пучок является монохроматическим, то интенсивность прошедшего пучка зависит от величины ф, которая, как следует из (8.2.6), является электрически перестраиваемой. Кроме того, если резонатор Фабри - Перо смещен таким образом, что коэффициент его пропускания в отсутствие модулирующего напряжения равен 50 %, то интенсивность прошедшего излучения будет сильно модулироваться относительно малыми модулирующими напряжениями. Это иллюстрируется на рис. 8.6. Большая глубина модуляции обусловлена резким пиком пропускания, разумеется, при условии, что резанатор имеет высокую добротность. [5]
Если излучение проходит через вещество ( раствор или твердый образец), которое его не поглощает, то практически интенсивность прошедшего пучка света не меняется. Веществ, пропускающих излучение во всем рассматриваемом нами диапазоне электромагнитного спектра, не существует. Каждое вещество поглощает, по крайней мере, в одном или нескольких участках спектра. При графическом изображении зависимости величины пропущенного веществом излучения от длины волны или волнового числа существуют участки, на которых величина поглощения не изменяется или только монотонно возрастает или падает. Такое поглощение называют непрерывным ( сплошным) поглощением. На других участках спектр изображается рядом максимумов и минимумов. В этих случаях поглощение называют избирательным. [6]
Рассмотренный метод уменьшения нежелательного френелевского отражения может хорошо сочетаться с традиционным просветлением поверхностей оптических элементов, тем более что при этом увеличивается интенсивность прошедшего пучка, а значит, повышается и эффективность смешения волн. [7]
Рассеивающий диполь, изображенный стрелкой, расположен в начале координат; J0 - интенсивность падающего в направлении оси х светового пучка; ij - интенсивность прошедшего пучка. [8]
Если интерференции дифрагированных пучков с прошедшим пучком или между собой препятствует ограничение, накладываемое апертурой объективной линзы, или если при данных условиях эксперимента разрешение микроскопа недостаточное, изменение интенсивности прошедшего пучка на светлопольном изображении будет зависеть от положения. На темнопольных изображениях, полученных от отдельных дифрагированных пучков, от положения будет зависеть изменение интенсивности-дифрагирован-ных пучков. Совершенные плоскопараллельные кристаллы ( однородной толщины) не будут давать контраста, однако любой дефект, изгиб или изменение толщины кристалла могут привести к его возникновению. [9]
Угол падения равен углу полной поляризации. Пользуясь формулами Френеля, определить: 1) интенсивность прошедшего пучка / 4, если падающий свет линейно поляризован в плоскости падения; 2) степень поляризации прошедшего пучка, если падающий свет естественный. [10]
Таким образом, оказалось, что электронам, как и фотонам, присущи определенные свойства, характерные для волн, а не для частиц; причем эти волновые свойства приходилось приписывать каждому электрону в отдельности, а не всей совокупности электронов в пучке. Вместе с тем каждый электрон, попадая на фотопластинку, давал почернение только в одном месте, в одном зерне светочувствительного слоя, и лишь совокупность почерневших зерен давала дифракционную картину распределения интенсивности прошедшего пучка. Итак, в одних условиях при прохождении сквозь кристалл электрон вел себя как протяженная волна, а в других - при попадании на зерно фотослоя - как строго локализованная частица. [11]
Стоячие волны расщепляются на два выходящих из кристалла пучка, дифрагированный и проходящий, как схематически показано на фиг. При небольшом отклонении от строгой периодичности нарушаются условия, необходимые для аномального прохождения. Разности температуры в 0 6 С между двумя концами кристалла кальцита достаточно для уменьшения аномальной интенсивности прошедшего пучка на два порядка величины. [12]
Однако при этой прецессии угол между магнитным моментом и индукцией магнитного поля не изменяется. Поскольку угол между магнитным моментом атома и осью Z не изменился, а направление градиента магнитного поля изменилось на обратное, сила, действующая на атом, также изменила свое направление на обратное. Благодаря этому траектория пучка атомов искривляется к оси прибора и при подходящей геометрии прибора и градиентах магнитных полей пучков атомов попадает в приемник П атомов и регистрируется там. Как показывает эксперимент, интенсивность прошедшего пучка в отсутствие магнитных полей и при включенных полях практически одна и та же. [13]
Пучок электронов определенной энергии, прошедший сквозь кристалл, падал на фотопластинку и давал дифракционную картину такую же, как и прошедший сквозь кристалл пучок рентгеновских или у-лучей. При этом дифракционная картина не зависела от интенсивности электронного пучка; та же картина получалась в предельном случае весьма слабых пучков, когда можно было считать, что электроны падают на кристалл поодиночке. Вместе с тем каждый электрон, попадая на фотопластинку, давал почернение только в одном месте, в одном зерне светочувствительного слоя, и лишь совокупность почерневших зерен давала дифракционную картину распределения интенсивности прошедшего пучка. [14]
Страницы: 1