Интенсивность - дифрагированный пучок
Cтраница 1
Интенсивность дифрагированного пучка периодически изменяется в зависимости от толщины кристалла, в результате чего в клиновидных кристаллах образуются толщинные контуры, расстояние между к-рыми определяется отклонением от отражающего положения. При наличии в кристалле дефекта появляется дополнительный сдвиг по фазе и результирующая интенсивность изменяется. На изображениях с дефектами упаковки наблюдается система параллельных светлых и темных полос. [1]
 |
Зависимость дифракционной эффективности голограммы от приведенного значения толщины ее слоя. [2] |
Изменение интенсивности дифрагированного пучка удобно характеризовать изменением дифракционной эффективности голограммы, равной отношению мощности излучения в основном направлении, в котором формируется изображение ( основной порядок дифракции), к мощности излучения, падающего на голограмму при воспроизведении изображения. [3]
Пренебрегая постоянным множителем, получаем интенсивность дифрагированного пучка ( фиг. [4]
Однако при этом должна уменьшиться и интенсивность дифрагированного пучка пропорционально s - 2, следовательно A / 4jtegros / - s - также должно уменьшиться. [5]
Ич-за сильной оптической активности BGO и BSO интенсивность дифрагированного пучка не зависит от поляризации. [6]
В работах Кенкре [211, 215] и Вонга и Кенкре [406] получено общее выражение временнбй зависимости интенсивности дифрагированного пучка, в котором учитываются эффекты экситонной когерентности ( см. разд. [7]
По причинам, которые не так хорошо понятны, как в двухвол-новом случае, относительно простое изменение интенсивности дифрагированного пучка с толщиной может произойти в случае, когда падающий пучок почти параллелен главной оси кристалла. Вычисления Фишера [138] для пучка, параллельного оси [001] кристалла CuAu, воспроизведенные на фиг. Все интенсивности дифракционных пучков осциллируют в фазе друг с другом, но противоположны по фазе падающему пучку. [8]
Мы пренебрегаем экспоненциальным множителем / у02 / 2х, так как это постоянный фазовый член для всех пучков. Интенсивность дифрагированного пучка дается квадратом модуля суммы в квадратных скобках. [9]
 |
Зависимость дифракционной эффективности голограммы от приведенного значения толщины ее слоя. [10] |
Отклонения длины волны света и направления вос - танавливающих лучей при воспроизведении изображения от значений этих величин при получении голограммы вызывают, отклонения направления дифрагированных лучей. Наблюдается также изменение интенсивности дифрагированного пучка в зависимости от толщины слоя голограммы, где происходит дифракция света. [11]
При фотоэлектрической регистрации возможно построение кривых зависимости интенсивности дифрагированного пучка от величины: смещения или угла поворота образца. [12]
 |
Кинограмма процесса миграции границы зерен в бикристалле цинка. [13] |
Суть его заключается в следующем. Пусть под узким рентгеновским пучком находятся граница и участки зерен, причем одно из них - в отражающем положении. Тогда интенсивность дифрагированного пучка равна некоторой величине, промежуточной между максимальной и минимальной интенсив-ностями. На основе этого способа создана установка непрерывного автоматического слежения за движением границ раздела в кристаллических твердых телах. [14]
Профили изображения подтверждают сделанный нами выше качественно вывод о том, что изображение дислокации асимметрично. Оно сдвинуто в сторону отрицательных значений 3, поскольку с этой стороны от дислокации рассеивается большая часть интенсивности. Смещение максимума интенсивности дифрагированного пучка относительно положения дислокации - порядка ширины самого максимума и, следовательно, довольно значительно. При увеличении п оно увеличивается, а при п - 3 и п - 4 кривая имеет два минимума. Вопрос о многократных изображениях, обусловленных различными причинами, будет рассмотрен ниже. [15]
Страницы: 1