Интенсивность - дифракционное пятно
Cтраница 1
Интенсивность данного дифракционного пятна или линии зависит от факторов двух типов: фактор первого типа связан с различиями в интенсивности излучения, рассеянного отдельными атомами, и фактор второго типа зависит от взаимодействия лучей, рассеянных различными атомами внутри одной элементарной ячейки. Взаимодействие лучей, рассеянных различными элементарными ячейками, не учитывается; фактически оно проявляется в том, что наблюдаются только рефлексы, предсказанные законом Брэгга. [1]
Множитель, описывающий ослабление интенсивностей дифракционных пятен, называется фактором Дебая - Валлера. Он получается в результате температурного усреднения амплитуд колебаний. [2]
 |
ЛЗ. Дифракционная картина фиброина шелка. Хорошо видны интенсивные меридиональные рефлексы. [3] |
Расшифровка картин дифракции рентгеновских лучей волокнами основана на том, что местонахождение и интенсивность дифракционных пятен прямо связаны с особенностями структуры волокна. [4]
 |
Рентгенограмма миоглобина кашалота. [5] |
Тяжелый атом, имеющий много электронов и сильно рассеивающий рентге-новские лучи, вызывает заметные изменения интенсивности дифракционных пятен. [6]
Наличие оси симметрии и-го порядка на дифракционной картине указывает на то, что в решетке кристалла имеется либо простая, либо винтовая ось симметрии того же порядка. Поскольку в случае винтовой оси интенсивность определенных дифракционных пятен всегда равна нулю, а в случае простой оси этого не наблюдается, эти два случая обычно можно различить. [7]
Основан на исследовании локальных изменении интенсивности рентгеновских дифракционных пятен, зафиксированных на фотопленке или фотопластинке. В методах Берга - Барретта, Ланга и Бормана для получения топограмм ( рис.) используется характеристическое ( монохроматическое) рентгеновское излучение. Источник рентгеновских лучей может быть линейный и точечный. [8]
Кристаллы КПАв и КПА0 изоморфны. Неодинаковое распределение электронной плотности в районе N-конца приводит к небольшим различиям в интенсивностях дифракционных пятен. КПАу, принадлежат к той же пространственной группе, что и кристаллы двух других карбоксипепти-даз, однако по своим характеристикам и дифракционной картине они очень сильно отличаются от них. [9]
Во время облучения в кристаллах наблюдались различные динамические эффекты, - быстрое мигрирующее изменение контраста в зависимости от интенсивности пучка, изменение интенсивности дифракционных пятен. Эти эффекты, по-видимому, связаны с термическими напряжениями, возникающими в кристалле при поглощении энергии, полученной от электронного пучка. Наблюдалось также вырастание нитей, вероятно, серебра из углов кристаллов. Эти процессы были зафиксированы киносъемкой с флуоресцирующего экрана микроскопа. [10]
 |
Расположение атомов Pd и Rb в ячейке кристалла p - Rb2 [ Pd ( NOo4 ]. [11] |
Если частное положение занимают тяжелые атомы, обладающие всегда большой рассеивающей способностью, то отражения, в которых они участвуют, будут значительно интенсивнее остальных. Например, тяжелые атомы, занимающие в примитивной решетке точки 000 и 1 / 2 1 / 2 1 / 2 ячейки, сделают отражения hkl с h k l четными более яркими, чем остальные. Подобные псевдопогасания часто позволяют определить расположение тяжелых атомов из одного только качественного рассмотрения интенсивности дифракционных пятен. [12]
Предположим, что рассеивающие центры расположены в параллельных плоскостях на определенных расстояниях d и что каждая рассеянная волна будет находиться в фазе, взаимодействуя с волнами, рассеянными последовательно расположенными параллельными плоскостями. Интенсивность дифракционных пятен на рентгенограмме меняется в широком интервале. Изменения интенсивности обусловлены тем, что рассеивающие центры не расположены точно на плоскостях кристалла, а распределены во всей элементарной ячейке. [13]
Вследствие того что аномальное изменение фаз всегда происходит в одном направлении, лучи, отраженные от V в / - форме, не будут отставать от Z-отражения почти в такой же степени, как в нормальном случае; в действительности они даже могут по-прежнему опережать отражение от Z. Другими словами, аномальное изменение фазы, вызываемое атомами Y, означает, что гребни волн в отражении от плоскости Z более не распределяются симметрично относительно гребней волн отражения от плоскости Y в d - и / - формах, как это происходит в общем случае. Общий эффект сводится к тому, что результирующий луч от d - формы, являющийся суммой двух пучков, отличается теперь и по фазе и по амплитуде от результирующего луча от / - формы. Вследствие этого должны измениться и интенсивности дифракционных пятен, тогда становится возможным четко различать каждую из двух возможных структур. [14]
Поэтому положения легких атомов в присутствии очень тяжелых в общем определить довольно трудно. Это относится, в частности, к водороду, и особенно тогда, когда он образует полярную связь с положительным зарядом на нем. Таким методом является точное измерение интенсивностей дифракционных пятен ( с использованием в качестве регистрирующего устройства счетчика Гейгера вместо фотографической пластинки) с последующим их сопоставлением. Для этого необходимо точно рассчитать электронную плотность, обусловливаемую тяжелыми атомами, и затем вычесть ее из общей электронной плотности, рассчитанной по экспериментальным данным. [15]
Страницы: 1 2