Интенсивность - свечение - экран
Cтраница 2
 |
Схема работы ультразвукового микроскопа С. Я. Соколова. [16] |
Электронный пучок, попадая на пластинку, выбивает из нее так называемые вторичные электроны; эти последние улавливаются специальным электродом 6, имеющимся в трубке. Оказывается, что число вторичных электронов, вылетающих из пьезопластинки при попадании на нее в какую-либо точку электронного пучка, зависит от заряда пластинки в этой точке. При движении электронного пучка на поверхности приемной пьезопластинки, отдельные точки которой имеют различные величины пьезозарядов, ток вторичных электронов, идущий через электрод 6, будет претерпевать изменения. Эти изменения усиливаются при помощи усилителя 7 и подаются на сетку ( или модулятор) 8 трубки 9 электронного осциллографа. Интенсивность свечения экрана этой трубки меняется в соответствии с изменением количества вторичных электронов. [17]
 |
Размещение испытательных сигналов в интервале кадрового гасящего импульсп ( Н - длительность передачи одной строки. [18] |
Переходные характеристики измеряют при помощи генератора прямоугольных импульсов. Импульсы подаются на вход измеряемой аппаратуры. Выходное напряжение контролируется осциллографом. На экране наблюдают форму импульсов и измеряют вносимые искажения. При измерении длительности фронта импульса используются временные метки. Генератор меток представляет собой высокостабильный генератор синусоидального напряжения. Напряжение этого генератора поступает на модулирующий электрод электроннолучевой трубки. Положительная полуволна синусоиды увеличивает интенсивность свечения экрана, а отрицательная - уменьшает. [19]
Страницы: 1 2