Cтраница 2
![]() |
Внешний вид измерителя помех ИП-20. [16] |
Измеритель радиопомех ИП-20 ( рис. 6.21) предназначен для наблюдения спектральной кривой помехи, измерения интенсивности составляющих спектра по экрану электронно-лучевой трубки. [17]
![]() |
Силы осцилляторов fik для линий Li I. [18] |
В длинноволновых компонентах, наблюденных Снеком, основная доля интенсивности приходится на fa; интенсивность коротковолновой компоненты складывается из интенсивностей составляющих ПЪ и Не. [19]
Как показано в настоящем параграфе, обычное положительное поглощение приводит к тому, что за счет него ( или самопоглощения) отношения интенсивностей составляющих мультиплета выравниваются. Таким образом, отношение интенсивностей возрастает. [20]
Кроме уже отмеченных, другие величины, входящие в уравнения, имеют следующий смысл: s0 - координата точки на оси стержня, отсчитываемая вдоль оси; p piPzP и m m1 / n2ms - векторы интенсивностей составляющих силовой и моментной распределенных нагрузок; вектор Q QiQ2Q3, составляющие которого в системе осей j, г, , характеризуют кручение ( Q) и кривизны ( Q2 &2 в плоскости г 2, Q3 - k3 - в плоскости Ig) оси стержня; бй - приращение вектора И, возникающее в результате деформации стержня. [21]
Эксперименты показали ( см. [4], § 4.4), что если уровень каждого из чистых тонов составляет 60 дБ, то уровень громкости разностного тона не превышает 40 фон. При уровнях интенсивности составляющих, равных 80 дБ, уровень громкости разностного тона достигает 80 фон. [22]
Вывод о пропорциональности интенсивностей составляющих узкого сериального дублета статистическим весам расщепленного уровня был обобщен Доргело и Бюргером [41 42] на случай перехода между простым и расщепленным уровнями, относящимися к любой мультиплетности. Указанное обобщение подтверждается измерениями интенсивностей составляющих главных и вторых побочных серий SP и PS. Как мы указывали ( § 39), линии главной и 2 - й побочной серий для всех мультиплетностей, начиная с трех, образуют группы по три линии, которые отличаются друг от друга интервалами и относительными интенсивностями. [23]
В то же время отношение интенсивностей составляющих дублета оказывается зависящим не только от концентрации, но и от рода растворителя. При малых концентрациях хлорбензола в СН2С12 и СС14 - отношение / оост / / 0011 превышает соответствующее значение в чистой жидкости. С увеличением концентрации оно уменьшается, приближаясь к значению, отвечающему нерастворенному хлорбензолу. [24]
Таким образом, параметр видимости интерференционной картины оказывается непосредственно равным доле когерентного света, присутствующего в интерферирующих световых пучках. Следовательно, измерение видимости картины позволяет в таких случаях определить долю интенсивности когерентных составляющих этих световых пучков. [25]
Таким образом, параметр видимости интерференционной картины оказывается непосредственно равным доле когерентного света, присутствующего в интерферирующих световых пучках. Следовательно, измерение видимости картины позволяет в таких случаях определить долю интенсивности когерентных составляющих этих световых пучков. [26]
В спектрах отражения ромбических кристаллов 80283 и 8Ьг8е3 ( рис. 2 и 3) в области 1 - 6 эв также находится абсолютный широкий максимум отражения со структурой в виде более слабых пиков. Положение вершины максимума при комнатной температуре меняется в зависимости от поляризации вследствие изменения интенсивности составляющих его пиков. При понижении температуры до 90 К происходит резкое обострение деталей структуры главного максимума, которая видна теперь в виде четких пиков отражения, обозначенных А-AT. Из простого сопоставления формы кривых видно, что спектры отражения этих кристаллов сильно поляризованы. Резкое отличие наблюдается в поляризациях EJ с и Е а. Поляризация Е Ь, не показанная на рисунках, структурно совпадает с поляризацией Е а. Вблизи края поглощения находится сильный пик А, хорошо заметный и при комнатной температуре. Этот пик поляризован: он ясно виден в поляризациях Е а и Е Ь и почти отсутствует в поляризации Е с. Пик AI заметно смещается в сторону больших энергий при понижении температуры. При более высоких энергиях находятся два близких пика Л2 и А3, присутствующие во всех поляризациях, однако с разной относительной интенсивностью. Пик Л3 в поляризациях ЕУа и Е Ь значительно слабее, чем в поляризации Е с. Оценить изменение интенсивности пика Л2 при смене поляризации трудно из-за близкого соседства Л3; вероятно, его интенсивность почти не изменяется. Два интенсивных пика Л4 и А5 также близко расположены по энергиям и очень четко выражены. Оба пика поляризованы: пик Л4 почти отсутствует в поляризациях Е а и Е Ь, а пик Л5 значительно ослаблен в поляризации Е1 с. [27]
Так, например, для линий легких атомов с малым числом внешних электронов правило интенсивностей для LS-св Язи соблюдается достаточно хорошо и тогда отношение интенсивностей составляющих мультиплета рассчитывается теоретически. [28]
Действительно в последнем случае для концентрации СНС13, не показывающей расщепления, фазовый переход жидкость-кристалл и дальнейшее понижение температуры приводит к коротковолновому сдвигу максимума полосы. Затем при увеличении концентрации появляется резонансный дублет, длинноволновый компонент которого слабее коротковолнового. Для еще больших концентраций наступает выравнивание интенсивностей составляющих дублета. Для обоих растворителей СНВг3 и СС14 перечисленные этапы совершенно тождественны. [29]
Выбор для характеристики работы источника степени постоянства отношения интенсивности дуговой и искровой линий обусловлено тем, что это отношение изменяется в значительно больших пределах, чем для двух линий с близкими потенциалами возбуждения. Следовательно, при определении ошибки, характерной для источника, роль ошибок, вызванных методом регистрации, может быть сделана пренебрежимо малой. Такого рода измерения не дают непосредственно ошибки, вносимой источником в анализ. Если метод анализа предусматривает измерение отношения интенсивностей составляющих однородного дублета, то ошибка в величине этого отношения при этом будет меньше ( отвлекаясь от различия поступления в плазму анализируемого элемента и элемента сравнения); наоборот, при анализе по измерениям интенсивности только аналитической линии ошибка может оказаться больше, чем ошибка в измерении отношения дуговой и искровой линии меди. Однако можно утверждать, что при прочих равных условиях источник, дающий меньшую ошибку при измерении отношения интенсивностей указанных линий меди, обеспечит и большую точность анализов. [30]