Cтраница 1
Интенсивность сплошного фона в лампах с полым катодом, вызванная электронным континуумом, несущественна. Основную опасность представляют посторонние линии в спектрах материала катода или заполняющего газа, лежащие в выделяемом спектральном интервале. [1]
![]() |
Зависимости плотности почернения. [2] |
Предположим, что спектр представляет собой совокупность отдельных спектральных линий; интенсивностью сплошного фона можно пренебречь; пусть также длины волн сравниваемых линий близки и зависимостью у от К можно пренебречь. [3]
Часто при сильном самообращении спектральной линии интенсивность излучения в ее центре меньше интенсивности сплошного фона источника. Объясните, как возникает это явление. [4]
![]() |
К расшифровке регистро-грамм.| Контур линии РЬ20в, рисуемый измерительным прибором. [5] |
Под истинной интенсивностью компонента с.т.с. здесь понимается интенсивность в максимуме данного компонента минус интенсивность сплошного фона от рассеянного света. [6]
![]() |
Эскиз трубки типа. [7] |
Начало рекристаллизации обработки сои ровождается появлением отдельных пятен и увеличением их числа и одновременным уменьшением интенсивности сплошного фона колец. К концу рекристаллизации обработки сплошной фон колец совсем исчезает, а число пятен достигает максимума. [8]
![]() |
Визуальная яркость спектральных линий ртути. [9] |
К-2 537 А уменьшается, за счет чего возрастает интенсивность излучения других линий ртутного спектра, а также интенсивность сплошного фона. [10]
Усиление интенсивности линий с низкими потенциалами возбуждения при наложении на разряд магнитного поля, а также уменьшение интенсивности молекулярного фона при неизменной интенсивности сплошного фона является благоприятным фактором, позволяющим снизить пределы обнаружения ряда редкоземельных элементов. [11]
Вместе с тем чрезмерное увеличение ширины щели не приводит к повышению освещенности для спектральных линий, в то время как сильно возрастает интенсивность сплошного фона, часто наблюдаемого в спектрах таких источников, как электрическая дуга и искра. [12]
Упомянутые выше расчеты показали, что выигрыш в чувствительности определения примесей может быть достигнут за счет увеличения отношения интенсивности аналитической линии к интенсивности сплошного фона спектра. Это реализуется при применении спектрографов с большой разрешающей силой. [13]
![]() |
Самообращение спектральной линии. [14] |
Интенсивность фона может изменяться в зависимости от различных причин. С увеличением температуры интенсивность сплошного фона, как правило, быстро растет. Обычно стремятся уменьшить интенсивность сплошного фона, так как он представляет собой серьезную помеху при качественном и количественном анализе веществ, присутствующих в небольших количествах. [15]