Cтраница 1
Малая интенсивность линий ЯКР ( низкая частота) и большое время спин-решеточной релаксации ( целочисленный спин 71) затрудняют поиски сигналов ЯКР. Поэтому эти данные в большинстве случаев позволяют получить лишь оценочные значения e2Qq в главных осях градиента электрического поля. [1]
При малой интенсивности линии точность определения ее энергии зависит от статистического разброса импульсов в максимуме фотопика. С другой стороны, если фотопик какой-либо у-линии оказывается расположенным на склоне комп-тоновского распределения либо другой более интенсивной у-линии, то максимум несколько смещается вверх по склону. [2]
![]() |
Пропускание стекла и кварца в дальней инфракрасной области спектра. [3] |
Эмиссионный анализ практически неприменим в инфракрасной области спектра далее 1 мк из-за малой интенсивности линий излучения. [4]
В некоторых сериях, возникающих при переходах со смещенных термов, наблюдается размытость и малая интенсивность опргделенных линий. [5]
Величину теплоты образования, полученную в случае 1 2-диметилгидразина, следует рассматривать лишь как весьма приближенную из-за малой интенсивности линии этого иона в спектре последнего соединения. [6]
А, имеют рентгеновский линейчатый спектр ( кристаллическая фаза), расшифровка которого затруднительна в связи с малыми интенсивностями линий. [7]
Малая интенсивность линий связана с тем, что колебание не является полносимметричным. [8]
Однако этот метод недостаточно точен из-за малой интенсивности линий. Поэтому для определения относительной концентрации различных изотопов в их естественных смесях применяют масс-спектрометры - приборы с электрической регистрацией ионных токов. Для создания таких пучков применяют ионные источники специальной конструкции. Благодаря особенностям поведения моноэнергетических ионов в поперечном магнитном поле удается осуществить достаточно хорошую фокусировку даже для сильно расходящихся пучков. Поэтому в масс-спектрометрах можно пользоваться пучками, содержащими большое число ионов, что значительно повышает точность измерения концентрации различных изотопов. [9]
Приводимые цифры относятся в общем к средним концентрациям определяемых элементов - от нескольких десятых процента до нескольких процентов. При более низких концентрациях точность обычно меньше, что обусловлено, при фотографических методах, влиянием фона непрерывного спектра, а при визуальных-еще и уменьшением точности фотометрирования вследствие малых интенсивностей линий. [10]
Многие соли и комплексные соединения Мп, в которых ион находится в октаэдрическом окружении, также имеют бледно-розовый цвет, а мелкораздробленные твердые вещества даже кажутся белыми. Причина малой интенсивности линий поглощения проста. Это соответствует основному состоянию свободного иона 6S, которое не расщепляется в поле лигандоз. [11]
В спектре КР этому колебанию соответствует слабая и размытая линия, что на первый взгляд противоречит указанному отнесению. Однако при сравнении спектров КР других членов ряда R3SiY обнаруживается, что интенсивность линии v ( SiY) быстро нарастает с уменьшением разности электроотрицатель-ностей атомов Si и Y. Отсюда следует, что малая интенсивность линии v ( Si-ОН) [ так же, как и линии ( SiF) ] является закономерным следствием высокой полярности связи. [12]
Линия с интенсивностью, составляющей 10 - 6 % от интенсивности основной линии, может быть зарегистрирована на пороге обнаружения при самой большой экспозиции, соответствующей интегралу тока на коллектор-монитор, равному 2 - 10-в кулон. Однако это не значит, что все примеси могут быть обнаружены при концентрациях до 10 - 6 ат. Ниже перечислены в порядке возрастающей важности факторы, определяющие предел обнаружения: 1) присутствие непрерывного фона, обусловленного процессами столкновения между ионами и молекулами остаточного газа в вакуумной системе; 2) ореол, появляющийся иногда со стороны больших масс у интенсивных линий; 3) непосредственное наложение линий, обусловленных элементами, присутствующими в веществе в большой концентрации; 4) малая интенсивность линий, обусловленная наличием большого числа изотопов у элемента; 5) низкая чувствительность для обнаружения примеси по сравнению с чувствительностью для основного элемента. [13]
![]() |
Образование а линии Стикса ( Ау положительно и о линии антн - Стокса ( Ду отрицательно в спектре комбинационною рассеяния. [14] |
Частота комбинационного рассеяния не зависит от частоты падающего излучения. Поьтому можно изучать колебательные или вращательные переходы в условиях, неосложненных одновременными электронными переходами на тех участках спектра. Однако вследствие малой интенсивности линий комбинационного рассеяния, нужна многочасовая экспозиция. [15]