Cтраница 1
![]() |
Интенсивность рассеяния аморфной частью ( заштриховано. [1] |
Интегральная интенсивность линии ( 11) экспериментальной кривой сравнивалась с интегральной интенсивностью теоретической кривой, вычисленной [7] для системы беспорядочно расположенных слоев по формулам Уоррена. [2]
![]() |
Выбор ширины входной Si и выходной S2 щелей спектрометра при измерении интегральной интенсивности спектральной линии. [3] |
Интегральная интенсивность линий не зависит от аппаратурных искажений спектрометра и формы контура возбуждающей линии. Отношение площадей, заключенных внутри наблюдаемых контуров линий, будет равно отношению истинных интегральных ин-тенсивностей линий. Поэтому интегральные интенсивности линий, непосредственно связанные с энергетическими характеристиками излучающего ( рассеивающего) вещества, играют важную роль при проведении научных исследований. [4]
Интегральная интенсивность линии является важным параметром для теории спектров комбинационного рассеяния. Этот параметр широко используется также для качественного и количественного анализов. [5]
Интегральная интенсивность линий - 1200 и - 1600 см 1 в спектрах нижекипящих изомеров заметно меньше, чем у вышекипящих. Это свидетельствует о том, что сопряжение в нижекипящем изомере слабее. Поэтому, в соответствии с изложенными соображениями, мы приписываем нижекипящим изомерам цис-конфигурацию, а вышекипящим - транс-конфигурацию. Следовательно, изученные нами стереоизомеры представляют собой еще один пример нарушения правила Ауверса-Скита. [6]
Интегральные интенсивности линий кратных связей в изучаемой группе веществ проявляют наибольшую чувствительность к положению С С-свяэи в тех сксгемах, где имеется феяильный заместитель. Действительно, если интенсивность ОС-связи соединения П а возрастает незначительно ( в пределах ошибки опыта) по сравнению с соответствующим ему изомером П, то переход от 1У к 1У а сопровождается увеличением интенсивности в 3 раза. Это свидетельствует об определенной вкладе сульфонилыюй группы во взаимодействия с двойкой углерод-углеродной связью. [7]
Интегральные интенсивности линий спектра ЯМР адсорбированных молекул могут использоваться как для исследования адсорбционных равновесий, так и для характеристики изменений в структуре молекул, например в случае адсорбции поворотных изомеров. [8]
Поучительно сравнить интегральные интенсивности линий в квадрупольном и разрешенном дипольном спектрах. [9]
При измерении интегральных интенсивностей линий в спектре КРС входная щель спектрографа составляла 0 030 мм, а выходная - 0 300 мм. [10]
Метод сравнения интегральной интенсивности линии ( 11) экспериментальной кривой с интегральной интенсивностью той же линии теоретической кривой, вычисленной для рассеяния системой беспорядочно расположенных слоев. [11]
На дифрактограмме определяли интегральную интенсивность линии 011, вычисляли ширину линии, вводили поправку на немонохроматичность излучения и определяли уширение линии ( в раданах), обусловленное малыми размерами частиц. [12]
Обычно принимают, что интегральная интенсивность линий в рентгеноэлектронном спектре пропорциональна числу атомов соответствующего элемента. Следовательно, может показаться, что по результатам измерения интегральных интенсивностей можно непосредственно проводить элементный анализ вещества. Однако даже поверхностное знакомство с опубликованными спектрами показывает, что применение на практике такого подхода не может дать удовле творительных результатов. [13]
Как уже отмечалось, интегральные интенсивности линий обычно регистрируют с помощью приборов небольшой дисперсии по центральной части изображения линии на спектрограмме. [14]
Существуют два метода определения интегральной интенсивности линии. [15]