Cтраница 1
Интервал низких частот указывает на то, какие внешние воздействия на систему регулирования можно считать медленно изменяющимися. Такие воздействия передаются через систему без заметных искажений. [1]
Поскольку большая часть энергии турбулентных вихрей концентрируется в интервале низких частот, длина волны, соответствующая безразмерной частоте максимума спектра, является удобной и полезной характеристикой размера элементов турбулентности. Другой, более распространенной характеристикой такого рода, является интегральный масштаб турбулентности. Это значение плохо выражено в условиях атмосферных течений. Поюбно безразмерной частоте максимума спектра интегральный масштаб, увеличиваясь в среднем с высотой над поверхностью земли, в то же время претерпевает существенные изменения от эксперимента к эксперименту. Такие большие изменения величины интегрального масштаба являются одним из источников погрешности при лабораторных аэродинамических испытаниях сооружений. [2]
Таким образом, логарифмическая амплитудная характеристика состоит из двух характерных участков. Для интервала низких частот, при которых со2Г2 1, характеристика представляет прямую линию, параллельную оси абсцисс. При К 1 эта часть характеристики совпадает с осью абсцисс. [3]
Как указывалось в [2.43, 2.44, 2.50], в интервале низких частот нарушаются гипотезы подобия, и поэтому недопустимо описывать спектр посредством универсального соотношения. [4]
Для построения асимптотической логарифмической ам-плитудночастотной характеристики проводят прямую через точку с ординатой 0 дб. Эта прямая с наклоном 0 дб на декаду аппроксимирует амплитудночастотную характеристику pslsp разомкнутой системы для интервала низких частот. По достижении сопрягающей частоты сол величина p8 / sp начинает испытывать влияние первой постоянной времени tR звена 1 ( тл / и 1) и аппроксимируется далее асимптотой be, наклон которой составляет-20 дб на декаду. [5]
До сих пор рассматривались главным образом измерения, проведенные на тонких пленках чистых окислов. Для того чтобы получить в этом случае количественные данные, необходимо измерять реактивное сопротивление в интервале низких частот и обрабатывать полученные данные по методу Коопса [55] или подобного ему. Этот же метод был использован ван Рейеном [56] для изучения диэлектрических свойств поверхностных пленок. [6]
Результаты, приведенные в табл. 7.3, дают основания считать, что использование выражения (2.55) ( которому соответствует значение fm 0 03) при расчете сооружений приводит к некоторому запасу. Как уже упоминалось ( см. разд. Поэтому следует полагать, что появление для здания 3 динамической реакции, соответствующей / т 0 10 или fm 0 19, маловероятно. Отметим также, что, согласно выражению (5.96), форма кривой спектральной плотности в интервале низких частот оказывает пренебрежимо малое влияние на величину ускорений. [7]