Cтраница 1
Интерпретация дифракционной картины зависит от того, что мы знаем о возможных расположениях атомов в пространственных решетках. [1]
Интерпретация дифракционной картины зависит от того, что мы знаем о возможных расположениях атомов в пространственных решетках. [2]
Интерпретация дифракционных картин от веществ, не обладающих столь высокой степенью упорядоченности, как кристаллическая решетка, не всегда проста. Как мы увидим ниже, близкие по характеру картины дают и очень маленькие кристаллы, и раз упорядоченные текстуры, и некоторые другие виды агрегатов молекул. По мере увеличения беспорядка дифракционные картины характеризуются все более размытыми рефлексами, и истинно аморфные вещества дают картину из нескольких диффузных колец - ореолов. [3]
![]() |
Электронномикроскопическое изображение колоний одномерных модулированных структур в сплаве Fe - Si. X35000. [4] |
Интерпретация рентгеновских и электронных дифракционных картин сплавов, содержащих сателлиты, не всегда является вполне однозначной. В частности, как отмечалось в предыдущем параграфе, расположение сателлитов в обратной решетке матрицы как для одномерной, так и для двухмерной модулированной структуры одинаково и поэтому не может быть использовано для идентификации типа модулированной структуры. [5]
Методы, описанные в разделе В, обычно достаточны для интерпретации дифракционных картин рассеяния электронов от полимерных образцов. Ниже рассматриваются некоторые примеры, наглядно иллюстрирующие наиболее существенные результаты в изучении структуры полимеров с использованием методов, основанных на дифракции электронов. [6]
![]() |
Определение константы температурной поправки на примере соли 1 ро. [7] |
Кроме того, неточное определение величины В не вызывает особых сомнений в правильности интерпретации дифракционной картины. [8]
В разделе В-1 будет дана геометрическая трактовка условий образования лауэграмм, весьма удобная для интерпретации дифракционных картин. [9]
![]() |
Участки плоскостей ( 2, 1, 2 в произвольной элементарной ячейке. [10] |
Обращаясь к закону Брэгга, мы видим, что sin 9, характеризующий отклонение между падающим и отраженным пучками, обратно пропорционален расстоянию d между плоскостями в кристаллической решетке. Структуры с большим d будут иметь сжатую дифракционную картину, а структуры, в которых d мало - растянутую. Если бы обратное соотношение между sin 9 и d можно было заменить на прямое, то интерпретация дифракционной картины упростилась бы. Это достигается конструированием обратной решетки. [11]
В самом деле, в этом опыте дифрагирующей системой служил кристалл окиси магния. Электроны, пролетая через такой кристаллик поодиночке через относительно очень большие промежутки времени, в результате дифракции летят затем в определенных направлениях к дифракционным максимумам. Заметим, кстати, что аналогичные дифракционные опыты осуществляются также и с нейтронами, не имеющими электрического заряда и взаимодействующими с атомами решетки через посредство ядерных сил, чрезвычайно быстро убывающих с расстоянием, ввиду чего возможность интерпретации дифракционной картины как результата взаимодействия нейтронов с отдельными атомами решетки абсолютно исключена. [12]
Несмотря на то что дифракция электронов в принципе может быть использована для определения положения атома в любом из фазовых состояний вещества, однако для исследования структуры полимеров применение дифракции электронов до настоящего времени ограничивается только кристаллическими объектами. Такое ограничение вызывается трудностями в расчете кривых рассеяния электронов для аморфных полимеров. Именно поэтому в дальнейшем изложении будут рассмотрены основные принципы дифракции электронов на кристаллах. Теория дифракции будет дана лишь в ограниченном объеме, требуемом для понимания возможностей применения дифракции электронов к полимерным системам и для интерпретации дифракционных картин. [13]
Прибор, называемый электронографом, тщательно вакууми-руют. Источником электронов является разогретая вольфрамовая нить; электроны ускоряют потенциалом V и фокусируют в тонкий луч диафрагмой и магнитными линзами. Луч пропускают через образец в форме тонкой пленки ( - 10 - 5 - 10 - 6 см), так как твердые вещества сильно поглощают электроны. Дифрагированный луч наблюдают на флуоресцирующем экране и регистрируют на фотографической пластинке. Интерпретацию дифракционной картины обычно выполняют методом Фурье. [14]