Интерференция - световая волна
Cтраница 2
Действие этих приборов основано на использовании явления интерференции световых волн. Интерферометры для линейных измерений делят на контактные и бесконтактные. Контактные интерферометры, разработанные И. Т. Уверским, имеют переменную ( регулируемую) цену деления от 0 05 до 0 2 мкм. Таким образом, на рабочей поверхности пластины 6 обе части пучка света интерферируют при небольшой разности хода. [16]
Отсюда мы можем сделать вывод о возможности интерференции световых волн различных частот, если только выполняется условие стационарности ( 3), обеспечивающее взаимную когерентность двух частот. [17]
Как можно создать условия, необходимые для возникновения интерференции световых волн. Для получения когерентных световых волн применяют метод разделения волны, излучаемой одним источником, на две части, которые после прохождения разных оптических путей накладываются друг на друга и наблюдается интерференционная картина. [18]
Контурная структура полированного куска металла, полученная методом интерференции световых волн. [19]
Радужные полосы в тонких пленках возникают в результате интерференции световых волн, отраженных от верхней и нижней границ пленки. Волна, отраженная от нижней границы, должна пройти дополнительный путь по сравнению с волной, отраженной от верхней границы. Поэтому волна, отраженная от нижней границы, отстает по фазе от волны, отраженной от верхней границы. Это отставание, выраженное в долях длины световой волны, зависит от толщины пленки в том месте, где произошло отражение, и от длины световой волны в материале пленки. [20]
Как можно создать условия, необходимые для возникновения интерференции световых волн. Для получения когерентных световых волн применяют метод разделения волны, излучаемой одним источником, на две части, которые после прохождения разных оптических путей накладываются друг на друга и наблюдается интерференционная картина. [21]
Как можно создать условия, необходимые для возникновения интерференции световых волн. Для получения когерентных световых волн применяют метод разделения волны, излучаемой одним источником, на две части, которые после прохождения разных оптических путей накладываются друг на друга, и наблюдается интерференционная картина. [22]
После этого уже не сложно исследовать экспериментальные методы наблюдения интерференции световых волн. При этом проводится оценка времени когерентности для обычного источника света и лазера по изменению видности интерференционной картины, получаемой с помощью интерферометра Майкельсона. Большое внимание уделено интерферометру Фабри-Перо, широко используемому в спектроскопии и лазерной физике и позволяющему охарактеризовать проникновение радиофизических идей в современную оптику. [23]
Теперь уже не составляет труда сформулировать идею эксперимента для наблюдения интерференции световых волн: от одного точечного источника нужно тем или иным способом получить две системы волн, которые затем следует свести вместе в какой-то области пространства. [24]
Объемное изображение предметов, полностью отражающее все их признаки, основано на интерференции световых волн. Габор, впервые попытавшийся записать волновое поле. Ныне под термином голограмма физики подразумевают как запись световых полей, так и веесторон - нюю запись сведений об объектах, позволяющую видеть их в объемном и как бы зеркальном изображении. [25]
 |
Зависимость Q от а для водяных капель ( го 1 33. [26] |
Зависимость Oext ( а) для водяных капель представлена на рис. 14.2. Величина осциллирует из-за интерференции внутренне отраженных световых волн в процессе рассеяния. [27]
 |
Схематические полярны е диаграммы для атомных S -, р - и rf - орби. [28] |
В этом случае знаки определяют характер этой интерференции, точно так же, как и в случае интерференции световых волн. [29]
Отклонения от плоскостности в условиях прецизионного производства измеряют оптическими приборами, принцип действия которых основан па явлении интерференции световых волн. Отклонение от плоскостности оценивается по числу и форме нптерфе - j tiiuiioHHbix полос, наблюдаемых при наложении стекла на исследуемую поверхность. Отклонение от плоскостности оценивается по интерференционной картине при наблюдении совмещенных изображений поверхностей исследуемой детали и образцовой стеклянной пластины, освещенных монохроматическим светом. [30]
Страницы: 1 2 3 4