Cтраница 2
Дифференциальные интерферограммы демонстрируют сбоку картины конвективной неустойчивости силиконового масла з прямоугольном ящике с относительными размерами сторон 10: 4: 1, подогреваемом снизу. [16]
Интерферограммы течения за системой отраженных скачков при падении на пограничный слой сильной ударной волны показывают, что в этом случае влияние падающей ударной волны на пограничный слой не ограничивается утолщением и турбулизацией пограничного слоя набегающего потока. Искривление интерференционных полос вблизи стенки за системой отраженных скачков как в случае ламинарного, так и в случае турбулентного слоя на стенке имеет следующий характер. [17]
Интерферограмма Рэлея имеет вид семейства параллельно смещенных кривых. Вертикальное смещение этих кривых пропорционально разнице в коэффициентах преломления, отвечающих двум секторам ( раствор и растворитель) интерференционной ячейки. Число смещенных полос определяется уравнением ( III. Соответствующее изменение концентрации описывается уравнением ( III. Впрочем, обычно нет необходимости пользоваться этими уравнениями, поскольку седимента-ционные данные можно представлять прямо в виде числа смещенных полос или даже при помощи непосредственных измерений расстояний на фотопластинке. Это упрощение оправдано в случае равновесного ультрацентрифугирования, так как для расчетов по уравнению ( VI. Несложный анализ покажет читателю, что коэффициент пропорциональности, связывающий концентрацию со смещением полос, не влияет на наклон графика зависимости In с от х2, а лишь вызывает ее смещение. [18]
Интерферограмма сложного излучения может быть преобразована в спектрограмму с помощью Фурье-анализа. [19]
Более сложные интерферограммы регистрируются в случае, когда изменяется не только температура пластинки, но и отражательная способность поверхности. Например, при нагревании в кислородной плазме монокристаллов кремния с прозрачной полимерной пленкой на поверхности происходит уменьшение толщины пленки вследствие химической реакции атомарного кислорода с полимерными молекулами, при этом образуются летучие продукты реакции. Интерферограмма при нагревании кристалла и травлении прозрачной пленки на его поверхности имеет вид, показанный на рис. 6.7. Толщина пленки уменьшается от начального значения HQ - 1 2 мкм до нуля при t - 70 с. Высокочастотные осцилляции интенсивности отраженного света связаны с изменением температуры кристалла, а низкочастотная модуляция обусловлена периодическим изменением коэффициента отражения поверхности, на которой имеется пленка переменной толщины. Наличие модуляции приводит к небольшому периодическому смещению интерференционных экстремумов, связанных с изменением температуры кристалла, относительно их положений в отсутствие пленки. Это смещение проявляется в виде небольших вариаций моментов времени, в которые достигаются интерференционные экстремумы, и фиктивных осцилляции скорости нагревания de / dt, показанных на рисунке. [20]
Интерферограммы полей температур в жидкостных слоях были получены на приборе ИАБ-451, преобразованном в дифракционный интерферометр. [21]
Двухэкспозиционные интерферограммы тепловых потоков над работающей радиоэлектронной схемой и прозрачных пластмассовых моделей под нагрузкой ( рис. 9.1, б, в) были получены в [9.6, 9.7] при использовании кристалла BSO. [22]
Интерферограммы диффузионного пограничного слоя ( часть из них в качестве примера показана на рис. 4.12 - 4.14) позволяют найти распределение концентраций и числа массообмена. [24]
Интерферограмма поверхности листового алюминия, полученная на микропрофилометре Линника. [25]
Интерферограмму можно разложить в ряд Фурье и подобрать амплитуды и фазы гармоник. [27]
Полную интерферограмму объекта увидим на поверхности самой голограммы, освещая ее диффуз-но-рассеянным белым светом. Она монотонна и контрастна по всему полю и наблюдается как в отраженном, так и в проходящем свете. [28]
Эта интерферограмма отражает только наклон объекта, и ее период не зависит от поступательного смещения объекта. Однако, так же как и в случае фильтрации в плоскости изображения, информация о смещении, не содержащаяся в пространственной частоте интерференционных полос, может быть извлечена путем сканирования отверстием в плоскости фильтрации. [29]
Для интерферограммы, содержащей 256К точек, на получение участка спектра протяженностью в 200 спектральных элементов нужно 64 с, 2К точек в спектре - 4 мин 40 с, для всех 256К точек в спектре - 10 ч 5 мин. [30]