Cтраница 1
Голографические интерферограммы, реконструируемые двукратно экспонированными сфокусированными голограммами, локализуются вблизи плоскости голограммы. Одним из следствии такой локализации интер-ферограмм является рассмотренная выше ( см. гл. [1]
![]() |
Голографические интерферограммы, соответствующие одинаковой деформации объекта, полученные при единичном увеличении. [2] |
Голографические интерферограммы ( картины живых полос) наблюдались в плоскости голограммы визуально и фотографировались. Интер-ферограмма возникает в зоне суперпозиции действительного оптического изображения с реконструированным сфокусированной голограммой прямым ( мнимым) изображением, а поде зрения в последнем, как указывалось выше, ограничивается апертурой восстановленного мнимого изображения линзы. Поэтому в случае, когда апертура линзы имеет размеры одного порядка с размерами объекта, она захватывает лишь часть увеличенной интерферограммы. [3]
![]() |
Интерферограмма напряженного состояния объекта, соответствующая проекционному изображению PI (. [4] |
Условия восстановления голографической интерферограммы также были адекватны условиям восстановления изображения объекта типа транспаранта ( разд. Восстановленные интерферограммы, соответствующие изображениям Габора, на рисунках не показаны. Так как для съемки интерферограммы Р и Р2 нет необходимости использовать специальную оптику или фотообъектив, достаточно заменить экран фотопластинкой. Уменьшение или увеличение размеров интерферограммы достигается выбором расстояния фотопластинки относительно голограммы ( рис. 4.14, 4.16), что исключает искажения, вносимые фотообъективами. [5]
Способы получения голографических интерферограмм делятся по принципу записи и восстановления взаимодействующих волновых полей, одно из которых образуется с помощью голограммы. [6]
Данный метод получения голографических интерферограмм в силу простоты экспериментальной реализации чаще всего используется на практике. Однако в отличие от метода интерферометрии в реальном времени он не позволяет непрерывно наблюдать изменения, происходящие с объектом. [7]
В случае получения голографических интерферограмм в реальном времени по френелевской схеме реализуется интерференционное сравнение восстановленной волны с волной, рассеиваемой реальным предметом, поэтому изменение масштаба топографического изображения недопустимо. Если же эталонная волна формируется голограммой сфокусированного изображения, то оказывается возможным производить сравнение увеличенного топографического изображения с изображением, увеличенным во столько же раз с помощью линзовой оптики. При этом число интерференционных полос на единице площади в апертуре фокусирующей системы уменьшается в зависимости от кратности увеличения. [8]
Эксперименты по записи голографической интерферограммы прозрачных объектов методом двух экспозиций проводились в адекватных условиях записи голограммы транспарантов ( разд. [9]
Развитие подхода к интерпретации голографических интерферограмм на основе пространственной фильтрации малыми апертурами приводит к возможности видоизменения процесса такой фильтрации в фурье-плоскости. [11]
Как хорошо известно [74, 143], голографические интерферограммы, отражающие поперечный поступательный сдвиг объекта в собственной плоскости, локализуются на бесконечности или в фокальной плоскости фурье-преобразующей линзы. Это обстоятельство, как показано выше, позволяет, проводя пространственную фильтрацию в этой плоскости, исключать вклад поступательного смещения в интерферограмму, отражающую сложное смещение объекта. [13]
Рассмотрим условия, при которых голографические интерферограммы, отражающие поступательное смещение объекта, локализуются на конечном расстоянии от изображения объекта, восстановленного двухэкспозицион-ной голограммой. [14]
Обычно кривая видности, соответствующая продольной локализации голографической интерферограммы поступательного смещения, наблюдаемой вблизи фурье-шюскости [185], описывается для прямоугольной апертуры симметричной sine - функцией. Подчеркнем, что такой вид распределения видности, связанный с наличием вторичных максимумов видности хорошо объясняется как качественно, так и количественно, именно наличием у спеклов тонкой структуры. По мере удаления вдоль оптической оси в обе стороны от фурье-плоскости, являющейся плоскостью полной корреляции спеклов, появление вторичных максимумов видности ( sine - функции) обусловлено частичной корреляцией пар идентичных спеклов при наложении различных максимумов их тонкой структуры. [15]