Cтраница 1
Автоматический дифрактометр печатает на бумажной ленте, карточках, магнитной ленте или каком-нибудь другом регистрационном материале такую информацию, как /, со, 26, ср, фон, время, необходимое для измерения фона, интенсивность пика и время, необходимое для измерения каждого отражения. [1]
Автоматические дифрактометры, управляемые ЭВМ, были разработаны во второй половине 60 - х годов. [2]
Автоматический дифрактометр ДАР-УМ представляет собой эквина-клонный дифрактометр для монокристаллов, управляемый ЭВМ Днепр-1. В выбранной для управления одним дифрактометром модификации оперативное запоминающее устройство имеет емкость 2К слоев, пассивное - ЗК слоев. Имеются 288 входных дискретных каналов, 120 выходных дискретных каналов, из них используется около половины. Для организации прерывания по заданному времени в ЭВМ встроен специальный секундомер. В комплект дифрактометра входят также стабилизированный источник рентгеновского питания, автоматический эквинаклонный гониометр и измерительный канал, заканчивающийся пересчетным устройством. [3]
Рентгеновский автоматический дифрактометр ДАРН-20 используют для определения напряжений в крупногабаритных объектах. Приборы такого типа необходимы для контроля напряжений вблизи сварных швов, в изделиях сложной формы типа лопастей турбин, гребных винтов, паровых котлов, когда невозможно вырезать из детали образцы малого размера, удобные для использования в дифрактометрах общего назначения. [4]
В автоматическом дифрактометре измерены интегральные интенсивности 2309 рефлексов. [5]
Новый тип автоматического дифрактометра для поликристаллов ДАРП-20 позволяет проводить одновременный фазовый анализ до 10 фаз в образце. [6]
Трехмерные данные получены в автоматическом дифрактометре. Структура уточнена МНК с учетом анизотропии; в ходе уточнения задавались координаты шести атомов водорода, локализованных из дифференциальных синтезов Фурье. [7]
Экспериментальные данные получены на автоматическом дифрактометре. Для расшифровки структуры использованы синтезы Паттерсона, Фурье, уточнение МНК по блок-диагональной схеме с учетом анизотропного температурного фактора; Л0 101 для 3418 рефлексов. [8]
Трехмерные экспериментальные данные получены на автоматическом дифрактометре; Я0 038 для 2767 рефлексов. [9]
Наиболее совершенными являются, пожалуй, автоматические дифрактометры с программным управлением. Установочные углы кристалла и счетчика определяются при помощи вычислительного механизма-приставки к дифрактометру или с помощью универсальной вычислительной машины в вычислительном центре. Результаты записываются на перфокарты, перфоленту или магнитную ленту, которая переносится в задающее устройство дифрактометра. В соответствии с полученным заданием кристалл и счетчик независимо друг от друга устанавливаются на отражение. Последовательность регистрации отражений в принципе может быть любой; она зависит лишь от программы расчетов, предложенной вычислительному механизму. [10]
Интенсивности полного набора рефлексов зарегистрированы с помощью автоматического дифрактометра. [11]
На рис. 51 показана принципиальная схема взаимодействия отдельных систем автоматического дифрактометра Сименс-Хоппе в режиме управления вычислительной машиной. [12]
Кроме того, во многих структурных центрах, оснащенных автоматическими дифрактометрами фирмы Ни-колет, используется комплекс программы этой фирмы, разработанный для приставки XTL, снабженный вычислительной машиной Nova-1200. Перечень основных программ этих трех комплексов и их условные названия даются в приложении. [13]
Наконец, во второй половине 60 - х годов были разработаны автоматические дифрактометры, управляемые ЭВМ - приборы, позволившие полностью автоматизировать процесс получения экспериментальных данных. В сочетании с автоматизацией всех ключевых моментов расшифровки структуры это привело в начале 70 - х годов к технической революции структурного анализа - к резкому сокращению времени, необходимого на проведение исследования, существенному повышению возможностей исследования сложных структур, общему повышению точности структурных данных. Период, начавшийся во второй половине шестидесятых годов, можно назвать эпохой постепнной автоматиза ц и и структурного анализа. [14]
Наконец, во второй половине 60 - х годов были разработаны автоматические дифрактометры, управляемые ЭВМ - приборы, позволившие полностью автоматизировать процесс получения экспериментальных данных. В сочетании с автоматизацией всех ключевых моментов расшифровки структуры это привело в начале 70 - х годов к технической революции структурного анализа - к резкому сокращению времени, необходимого на проведение исследования, существенному повышению возможностей исследования сложных структур, общему повышению точности структурных данных. Период, начавшийся во второй половине шестидесятых годов, можно назвать эпохой постепнной автоматизации структурного анализа. [15]